普通光學顯微鏡至少需要兩個附加組件才能實現(xiàn)偏光顯微鏡觀察。要檢測雙折射性，必須使用線偏振光照明。因此，必須在顯微鏡的光束路徑中插入兩個偏振濾光片。通過起偏器產(chǎn)生偏振光來照射試樣，第二個偏振濾光片（稱為檢偏器）將檢測到的光限制為折射光。

偏振濾光片必須互成 90° 角，才能達到所謂的 "全黑位置"。當偏振濾光片設置在這個位置時，沒有光線會進入相機或目鏡，圖像將是暗的。設置為“全黑”是偏光顯微鏡的一個重要步驟，因為它可以確保只有因試樣而導致偏振面發(fā)生變化的光線才是可見的。

重要的是，被檢測的雙折射材料的偏振軸與第一個偏振片產(chǎn)生的光處于同一偏振軸上。因此，許多偏光顯微鏡都配備了旋轉平臺，以確保物體的偏振面與第一偏振濾光片的偏振面容易對準。偏光顯微鏡的特殊應用可使用各種附件。

貝特朗透鏡可用于對物鏡后孔聚焦的晶體圖案進行圓錐觀察。此外，延緩板或補償器可用于對雙折射試樣進行定量分析。

圖 3：波羅的海琥珀中的蒼蠅。雖然琥珀是一種無定形物質，理論上具有光學各向同性，但在偏振光下可以觀察到內(nèi)部應變造成的樹脂流動結構以及夾雜物造成的應變。偏振光和一階紅色補償器的使用使原本金黃的琥珀呈現(xiàn)出濃烈的色彩。暗場和入射光（玻璃纖維）、交叉偏振、一階紅色補償器、HDRI 色調映射的組合。由瑞士伯爾尼瑞士寶石學會 Michael Hügi 提供。

圖 4：鈷，冷軋，貝拉哈刻蝕，偏光。微觀結構形態(tài)的檢查在材料科學和失效分析中起著決定性作用。在偏光顯微鏡下對刻蝕樣品進行光學偏振，往往可以增強顏色對比度和特定的微觀結構形態(tài)。由德國普福爾茨海姆大學的 Ursula Christian 提供。

圖 6：用偏振顯微鏡拍攝的用巴克試劑蝕刻的鋁（Al）合金圖像。通過偏振光可以看到蝕刻后的鋁合金晶粒。

DM750P & DM2700P & DM4P