在材料科學(xué)與光電器件研發(fā)的前沿領(lǐng)域，光致發(fā)光量子效率（PLQY）的精確測(cè)量對(duì)理解材料光學(xué)特性、優(yōu)化光電器件性能意義重大。光致發(fā)光現(xiàn)象廣泛存在于有機(jī)金屬復(fù)合物、熒光探針、染料敏化型 PV 材料、OLED 材料、LED 熒光粉等多種材料中。隨著這些領(lǐng)域的飛速發(fā)展，對(duì)光致發(fā)光量子效率測(cè)量的準(zhǔn)確性、高效性和靈活性提出了更高要求。傳統(tǒng)測(cè)量設(shè)備在面對(duì)復(fù)雜多樣的測(cè)量場(chǎng)景和高精度測(cè)量需求時(shí)，往往難以滿足。東譜科技憑借深厚的技術(shù)積累和對(duì)市場(chǎng)需求的敏銳洞察，推出了光致發(fā)光量子效率測(cè)量系統(tǒng) HiYield - PL，為行業(yè)帶來全新解決方案。

（一）原理

光致發(fā)光（Photoluminescence 簡(jiǎn)稱 PL），是指物體在受到外界光源照射時(shí)，獲得能量，受激發(fā)光的現(xiàn)象，也指物質(zhì)吸收光子（或電磁波）后重新輻射出光子 (或電磁波) 的過程。在量子力學(xué)理論中，這一過程可描述為物質(zhì)吸收光子躍遷到較高能級(jí)的激發(fā)態(tài)后返回低能態(tài)，同時(shí)放出光子。

（二）技術(shù)特點(diǎn)

HiYield - PL 采用靈活的模塊化架構(gòu)，可根據(jù)不同測(cè)量場(chǎng)景和用戶需求定制化配置。無論是科研機(jī)構(gòu)的基礎(chǔ)研究，還是企業(yè)的大規(guī)模生產(chǎn)檢測(cè)，都能精準(zhǔn)適配，確保在各種復(fù)雜條件下穩(wěn)定、高效地獲取 PLQY 數(shù)據(jù)。

為減少人為操作誤差，提高測(cè)量重復(fù)性，該設(shè)備可選配自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)。該系統(tǒng)能按預(yù)設(shè)程序自動(dòng)完成樣品的裝載、定位和測(cè)量，極大提高測(cè)量效率和數(shù)據(jù)可靠性。

配備自動(dòng)化軟件，實(shí)現(xiàn)一鍵測(cè)量所有參數(shù)的功能。軟件具備直觀操作界面和智能化數(shù)據(jù)處理能力，操作人員無需復(fù)雜培訓(xùn)即可輕松上手，大大縮短測(cè)量周期。

（三）技術(shù)優(yōu)勢(shì)

HiYield - PL 在設(shè)計(jì)上充分考慮抑制各種干擾因素，采用高靈敏度探測(cè)器和精確光學(xué)系統(tǒng)，能實(shí)現(xiàn)對(duì)光致發(fā)光量子效率的高精度測(cè)量，為科研和生產(chǎn)提供可靠數(shù)據(jù)支持。HiYield - PL可適用于薄膜、粉末、液體等多種形態(tài)的光致發(fā)光材料，涵蓋從有機(jī)到無機(jī)的各類材料體系，滿足不同用戶在不同領(lǐng)域的多樣化測(cè)量需求。設(shè)備具備快速的數(shù)據(jù)采集和處理能力，能在短時(shí)間內(nèi)完成大量樣品的測(cè)量和分析，有效提高工作效率，尤其適用于大規(guī)模生產(chǎn)線上的質(zhì)量控制和研發(fā)過程中的快速篩選。

（四）技術(shù)功能解釋

HiYield - PL能準(zhǔn)確測(cè)量材料的發(fā)光量子效率，即發(fā)射光子數(shù)與吸收光子數(shù)之比，同時(shí)還可對(duì)內(nèi)量子效率精確評(píng)估，為深入研究材料發(fā)光機(jī)制提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。

可測(cè)量激發(fā)波長(zhǎng)依賴量子效率、藍(lán)光吸收比、衰減比等多種效率參數(shù)，全面反映材料在不同激發(fā)條件下的性能變化，有助于用戶深入了解材料光學(xué)特性。

涵蓋光譜功率分布、輻射通量、光子數(shù)、光通量、光視效能、峰值波長(zhǎng)、中心波長(zhǎng)等參數(shù)的測(cè)量，為材料光學(xué)性能評(píng)估提供豐富維度。

能精確測(cè)量 CIE 色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫（CCT）、MK - 1（mired）、顯色指數(shù)（CRI）、RGB 顏色值等色度學(xué)參數(shù)，滿足光電器件在顏色特性方面的測(cè)量需求。

可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè) PLQY - t、λ - t、Radiance - t、Lumen - t、K - t、CIE - t、CCT - t、CRI - t 等衰減參數(shù)，為研究材料穩(wěn)定性和壽命提供重要依據(jù)。（插入衰減參數(shù)隨時(shí)間變化的曲線示例圖，標(biāo)注橫坐標(biāo)為時(shí)間，縱坐標(biāo)為不同衰減參數(shù)，解釋曲線變化反映的材料穩(wěn)定性和壽命信息）