體積表面電阻率測試儀——影響電阻測量精度的六大關(guān)鍵因素

來源：北京中航時代儀器設(shè)備有限公司 2025年03月21日 15:53

影響電阻測量精度的六大關(guān)鍵因素

因素	影響機制	解決方案
測量時間	分布電容充電時間達(dá)數(shù)十分鐘（例：電纜測試中初始阻值偏低，60s后穩(wěn)定）	設(shè)定定時測量（如GB/T 3048規(guī)定電纜測量時間60s）。
重復(fù)測量	殘余電荷疊加（導(dǎo)致二次測量阻值↑30%以上）	測量為基準(zhǔn)，重復(fù)測試需放電≥30分鐘。
電壓選擇	高電壓激活材料漏電流（1000V比100V測值低50%）	根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)選擇電壓（如IEC 60243規(guī)定絕緣材料測試電壓梯度1kV/mm）。
溫度波動	半導(dǎo)體反向漏電流隨溫度↑8℃翻倍（硅材料特征）。	恒溫實驗室（±1℃），數(shù)據(jù)換算至標(biāo)稱溫度（如25℃）。
濕度干擾	表面吸濕（濕度↑60%→表面電阻↓100倍）。	預(yù)干燥處理（50℃烘箱2h）+實時濕度監(jiān)控。
環(huán)境電磁干擾	電磁場感應(yīng)電流（電焊機啟動時噪聲電流達(dá)10?1?A）	雙重屏蔽室、低噪聲同軸電纜（屏蔽層接地阻抗＜1Ω）。

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