x 射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237,也稱為 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,采用手動或自動方式,可對微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層進(jìn)行測量和分析。
菲希爾X射線測厚儀FISCHER X-RAY XDLM237典型應(yīng)用領(lǐng)域
測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零部件
測量微小區(qū)域上的薄鍍層
測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
全自動測量,如測量印刷線路板
設(shè)計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列,具備以下特性:
工作臺與升降系統(tǒng):配備馬達(dá)驅(qū)動的 X/Y 工作臺,保護(hù)門開啟時,工作臺自動移至樣品放置位置;擁有馬達(dá)驅(qū)動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。
定位輔助:高分辨率的彩色視頻攝像頭便于定位測量位置,配備的激光點可輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。
樣品適應(yīng)性:測量箱底部的開槽專為面積大且形狀扁平的樣品設(shè)計,能測量比測量箱更長、更寬的樣品,例如大型的印制電路板。
樣品擺放與測量調(diào)整:帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡,簡化樣品擺放,同時允許測量點的調(diào)整。
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