安捷倫推出強(qiáng)大的自動(dòng)夾具移除(AFR)選件
2014年5月30日,北京――安捷倫科技(NYSE:A)日前宣布推出強(qiáng)大的自動(dòng)夾具移除(AFR)選件。該選件主要用于旗下的 PNA 系列網(wǎng)絡(luò)分析儀。早前,這項(xiàng)誤差校正技術(shù)僅在安捷倫物理層測(cè)試系統(tǒng)(PLTS)軟件中提供。自動(dòng)夾具移除(AFR)選件能夠成就業(yè)界zui輕松、zui快速的非同軸器件測(cè)量,幫助工程師減少時(shí)間和資金的投入。
如今,許多器件都沒(méi)有同軸連接器,只能通過(guò)夾具才能在同軸環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。然而,要獲得的被測(cè)件測(cè)量結(jié)果,需要去除夾具效應(yīng)。盡管可以通過(guò) EM 電磁仿真軟件的建模,或者在基板上構(gòu)建多個(gè)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件來(lái)表征和去除夾具效應(yīng),但這些方法非常繁雜而且耗時(shí)。
安捷倫的 PNA AFR 選件可幫助工程師快速、地去除非同軸器件測(cè)量環(huán)境中的夾具效應(yīng):工程師可以使用快捷的五步向?qū)С绦蛲瓿杀匾僮鳎缓髮⑷デ度胛募4鏋槎喾N格式,以便日后在 PNA、PLTS 和*設(shè)計(jì)系統(tǒng)軟件中使用。
使用 AFR 選件時(shí),工程師必須首先對(duì)夾具輸入端的參考面進(jìn)行同軸校準(zhǔn);然后再測(cè)量一個(gè)或多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)件,將其作為夾具的 2 端口直通通道,或者充當(dāng)開(kāi)路或短路的半端接夾具。如果只使用單端口的 AFR,實(shí)施夾具去嵌入的過(guò)程可以更快。在被測(cè)件安裝之前先對(duì)實(shí)際夾具的測(cè)量作為開(kāi)路狀態(tài), 之后,AFR 選件會(huì)自動(dòng)表征夾具,并將夾具效應(yīng)從測(cè)量結(jié)果中去除。目前的 PLTS 軟件也具備了單端口 AFR 功能。
安捷倫元器件測(cè)試事業(yè)部營(yíng)銷 Steve Scheppelmann 表示:“ AFR 選件的精度可與板上TRL校準(zhǔn)相媲美,但實(shí)現(xiàn)起來(lái)更為輕松。對(duì)于不熟悉 AFR 的微波工程師,為了地校正夾具效應(yīng),他們*不必再去執(zhí)行復(fù)雜的 EM 仿真或構(gòu)建板上校準(zhǔn)套件。而對(duì)于熟練使用 AFR 的信號(hào)完整性工程師,他們也能受益于 AFR 選件的單端口功能,從而顯著節(jié)省測(cè)試時(shí)間。”
安捷倫將在 2014 IEEE MTT-S 微波會(huì)議上展示的 AFR 選件以及其他 20 款設(shè)計(jì)和測(cè)量解決方案。會(huì)議預(yù)定于 6月 1 日 至 6 日在美國(guó)佛羅里達(dá)州坦帕市舉行,安捷倫位于 1133 展臺(tái)。安捷倫合作伙伴的展臺(tái)與安捷倫相鄰,他們將展示的解決方案包括:建模和器件表征,半導(dǎo)體制造,IC、晶圓和 PCB 設(shè)計(jì)、測(cè)試和原型制造,天線測(cè)量系統(tǒng)和測(cè)試暗室以及定制系統(tǒng)等。此外,安捷倫高頻技術(shù)中心研發(fā) Robert Shimon 博士將于 6 月 3 日星期二上午 10:05-10:45 在 MicroApps 劇院發(fā)表主題演講,題目是《數(shù)字市場(chǎng)如何推動(dòng)微波技術(shù)發(fā)展》。而安捷倫元器件測(cè)試事業(yè)部研發(fā) Bob Schaefer 將于 6 月 5 日星期二下午 2:05 在MicroApps 劇院發(fā)表 AFR 主題演講,題目為《校準(zhǔn)方法提高夾具器件的測(cè)量精度》。
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