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納米顆粒的尺度一般在1-100nm之間, 是介于原子、分子和固體體相之間的物質(zhì)狀態(tài)。由于納米顆粒具有尺寸小、比表面積大和量子尺寸效應(yīng), 使它具有不同于常規(guī)固體的新特性。在納米態(tài)下, 顆粒尺寸更是對其性質(zhì)有著強(qiáng)烈的影響, 納米材料的粒度大小是衡量納米材料zui重要的參數(shù)之一。而常規(guī)的基于靜態(tài)光散射原理的激光粒度儀的測量下限己接近極限, 但仍舊不能對納米顆粒的粒度測試得出理想的結(jié)果甚至無能為力。光子相關(guān)光譜(Photon Correlation Spectroscopy,簡稱PCS)法已被證明是一種適于測量納米及亞微米顆粒粒度的有效方法。PCS技術(shù)也成為動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, 簡稱DLS) 技術(shù), 主要是研究散射光在某一固定空間位置的漲落現(xiàn)象。其顆粒粒度測量原理建立在顆粒的布朗運(yùn)動基礎(chǔ)之上。由于顆粒的布朗運(yùn)動, 一定角度下的散射光強(qiáng)將相對于某一平均值隨機(jī)漲落。
基于動態(tài)光散射原理的顆粒粒度測試基本原理如圖1.1所示。
zui后再對四路基線求其平均值用于數(shù)據(jù)分析, 以免突變的光強(qiáng)引起光強(qiáng)自相關(guān)函數(shù)發(fā)生畸變。
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