超聲波測(cè)厚儀,是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭通過測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。
涂層測(cè)厚儀與超聲波測(cè)厚儀都是用來測(cè)量物體厚度的儀器,但是涂層測(cè)厚儀和超聲波測(cè)厚儀在測(cè)量過程中具有眾多的不同點(diǎn),如測(cè)量對(duì)象、測(cè)量厚度等因素。下面我們一起來看看涂層測(cè)厚儀與超聲波測(cè)厚儀的區(qū)別有哪些。
涂層測(cè)厚儀與超聲波測(cè)厚儀的區(qū)別:
涂層測(cè)厚儀,主要用在表面處理行業(yè),是用來測(cè)量金屬或塑膠表面的涂層厚度。具體測(cè)量方法如下:將普通涂層測(cè)厚儀膜片(校準(zhǔn)片)與沒進(jìn)行過表面處理的產(chǎn)品放在一起,然后噴涂,結(jié)束后用儀器測(cè)量膜片厚度,從而得知產(chǎn)品涂層的厚度。
相關(guān)產(chǎn)品
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