MC-2000A型涂（鍍）層測厚儀使用方法 

1.開機：先取開探頭線插在儀器上，（插拔探頭時，請抓住探頭線上的接插件部位插拔，不要直接抓住探頭線，以免損壞探頭。）然后按動“ON/OFF”鍵（探頭與鐵基或磁場的距離保持10cm以上)開機聽到蜂鳴聲后儀器進入測量狀態(tài)，可以直接進行測量。如果測量數(shù)據(jù)偏差較大，可以進行校準后再測量。

測量時要注意測量指示,箭頭消失后才能再次測量，如右圖

    2.校準：本儀器分為系統(tǒng)校準、兩點校準和鐵基校準三種。在一般情況下只需進行鐵基校準即可進行準確測量。當儀器鐵基與被測件鐵基的磁性和表面粗糙度差別較大時，可以進行系統(tǒng)校準以保證測量度。

(1) 鐵基校準（零點校準）

儀器標準基體金屬的磁性和表面粗糙度應當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。為了保證測量的性，可以在測量測試件之前*行鐵基校準。

校準方法：在儀器開機狀態(tài)下，將探頭垂直的放在被測試件的裸露基體上進行測量，測量兩次，測完第二次按住探頭不動按下"CAL"鍵，伴隨著兩聲蜂鳴即可完成鐵基的校準。如果沒發(fā)出兩聲蜂鳴說明操作有誤，重新按以上步驟操作直至發(fā)出兩聲蜂鳴即可。

(2) 兩點校準

在測量過程當中，如果發(fā)現(xiàn)個別測量值偏差較大可以通過兩點校準方法進行調整。

校準方法：把一個已知厚度的被測試件作為標準樣片進行測量，如果顯示值與真實值不一致，可以通過"▲"、"▼"鍵進行加1或減1操作。按住"▲"、"▼"鍵不放可以進行連續(xù)加、減，直到顯示值和真實值相同為止。校準完成后即可進行正常

注意：兩點校準時選用的被測試件厚度不要與系統(tǒng)校準時的五個樣片值接近，否則操作無效。

(3) 系統(tǒng)校準

儀器在出廠前已經(jīng)經(jīng)過技術人員系統(tǒng)校準，為保證度也可在工作現(xiàn)場進行二次系統(tǒng)校準。

系統(tǒng)校準過程：

在關機狀態(tài)下同時按住"ON/OFF"鍵和"MENU"鍵，先放開"ON/OFF"鍵然后放開"MENU"鍵即可進入系統(tǒng)校準模式。

本系統(tǒng)校準共需要校準五個標準樣片，進入系統(tǒng)后首先顯示"鐵基"界面，此時要把探頭垂直的放到被測件的裸露基體上進行測量。測量兩次后如果測量沒有錯誤操作，伴隨著兩聲蜂鳴便進入*個樣片的測量。屏幕顯示出廠時提供的*個樣片值。如果顯示的樣片值和真實值不符，可以通過"▲▼"鍵來進行加1或減1操作。按住"▲″或"▼"鍵不動可以連續(xù)加或減，直到調整到顯示值和真實值相同為止。調整完樣片值之后即可對*個樣片進行測量，測量兩次無誤后，伴隨著兩聲蜂鳴，儀器進入下一個樣片的校準。若測量兩次后仍無兩聲蜂鳴，說明操作有誤，重新測量一次即可。接下來四個樣片的調整方法同上。

    當?shù)谖鍌€樣片校準完成后屏幕顯示"0000''，進入開機界面如圖A，儀器此時即完成了系統(tǒng)校準過程。以后就可以對被測件直接進行測量。

注意：這五個樣片可以使用儀器提供的標準片也可以使用

已知厚度的樣片作為標準片。樣片校準時要按照由小到大的順序進行，相鄰樣片間應該有一定的差值。系統(tǒng)校準時所選用的鐵基必須是平整的而且其表面要大于30mm×30mm。

如果由于現(xiàn)場強磁場干擾或者操作不當造成系統(tǒng)紊亂時，可以通過系統(tǒng)初始化設置進行系統(tǒng)恢復。

系統(tǒng)初始化設置：

    在關機狀態(tài)下，同時按住“▲▼”鍵不動，然后按一下"ON/OFF"鍵，直到屏幕顯示“OK”。松開“▲▼”鍵，初始化設置即可完成。此時儀器顯示“鐵基”，儀器進入系統(tǒng)校準狀態(tài)，按照系統(tǒng)校準的方法，校準完成后即可正常測量。

    3.在測量狀態(tài)下存儲

在測量狀態(tài)下屏幕顯示為測量值，如需存儲按動儀器上面的“ENTER”鍵，存儲地址自動加1。例如當前地址為0004，測量厚度值為1054um，存儲后地址變?yōu)?/span>0005，顯示界面如圖示。

屏顯結果只能被存儲一次，如需另外存儲可重新測量。如果要從初始地址重新開始存儲可以在存儲讀出菜單下長按"ENTER"鍵，儲存序列號就會回歸至初始地址0001，即可開始重新儲存。