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一、原位雙軸測試儀的功能與意義
設備概述
定義:一種可同時對材料或結構施加雙軸(X/Y方向)力學載荷的測試設備,支持實時監(jiān)測形變、應力-應變曲線及失效過程。
核心參數(shù):載荷范圍(N/kN)、位移分辨率(μm)、加載頻率、溫度/濕度環(huán)境集成能力。
應用場景
模擬芯片封裝在復雜工況下的多軸應力狀態(tài)(如封裝翹曲、基板彎曲、焊點剪切疲勞)。
評估材料界面(如塑封料與基板、TSV通孔與硅)的抗分層能力。
二、教學模塊融合設計
模塊1:理論基礎補充
雙軸力學與封裝失效
雙軸應力對封裝結構的疊加效應(如熱膨脹+機械彎曲導致的分層風險)。
對比單軸測試的局限性,強調(diào)多軸測試的必要性。
原位測試技術原理
實時觀測技術:結合數(shù)字圖像相關(DIC)或顯微攝像頭,捕捉形變與裂紋擴展過程。
同步環(huán)境控制:高溫/低溫、濕度環(huán)境與力學加載的耦合測試方法。
教學形式:
動畫演示雙軸應力分布(如ANSYS仿真結果)。
文獻案例:某3D封裝因雙軸翹曲導致TSV斷裂的分析。
模塊2:新增實驗項目
實驗4:原位雙軸力學測試
實驗目標
掌握雙軸測試儀操作流程,分析封裝結構在復合應力下的失效模式。
關聯(lián)實際場景(如芯片貼裝后的板級彎曲、車載振動+溫度沖擊)。
實驗步驟
實時記錄應力-應變曲線、DIC全場形變數(shù)據(jù)。
通過顯微攝像頭觀察界面分層或焊點裂紋萌生過程。
雙軸載荷模式(同步拉伸/壓縮,或非對稱加載)。
環(huán)境條件(可選:85℃高溫或-40℃低溫)。
樣品制備:封裝樣品(如BGA、QFN)固定在雙軸測試臺,表面噴涂散斑(DIC用)。
參數(shù)設置:
數(shù)據(jù)采集:
分析要求
繪制雙軸應力-應變曲線,計算屈服強度與斷裂韌性。
結合DIC數(shù)據(jù),定位初始失效位置并分析應力集中原因。
教學形式:
分組操作(4人/組),分角色負責設備操作、數(shù)據(jù)記錄、顯微觀察。
對比單軸與雙軸測試結果,討論多軸載荷對失效機制的影響。
模塊3:進階案例分析
案例3:FCBGA封裝在板級彎曲下的雙軸失效
背景:某服務器CPU在主板安裝后出現(xiàn)隨機失效,推測為封裝翹曲導致焊點疲勞。
測試過程:
使用原位雙軸測試儀模擬主板彎曲(X/Y方向非對稱加載)。
同步紅外熱成像監(jiān)測芯片溫度分布,關聯(lián)熱-力耦合效應。
結論:
焊點裂紋起源于基板邊緣(應力集中區(qū)),建議優(yōu)化基板CTE或增加底部填充膠。
教學形式:
提供真實測試數(shù)據(jù)(載荷曲線、DIC形變圖、失效顯微照片),小組討論失效路徑。
結合仿真軟件(如ABAQUS)復現(xiàn)應力分布,驗證實驗結論。
三、教學資源擴展
設備清單更新
原位雙軸測試儀(配備環(huán)境箱、DIC系統(tǒng))、紅外熱像儀、高速顯微攝像頭。
虛擬仿真工具
雙軸力學仿真模塊(COMSOL Multiphysics或ANSYS Mechanical)。
參考資料
論文:《雙軸加載下塑封材料界面分層行為研究》。
標準:JEDEC JESD22-B113(板級彎曲測試方法)。
四、考核方式調(diào)整
實驗報告新增要求(20%)
分析雙軸與單軸測試的失效模式差異,提出設計優(yōu)化建議。
實操考核新增項目
任務:設置雙軸非對稱加載參數(shù)(如X方向拉伸10N,Y方向壓縮5N),并解釋其對封裝可靠性的影響。
五、擴展討論
先進封裝挑戰(zhàn)
柔性電子封裝的雙軸疲勞測試(如折疊屏芯片的彎曲+拉伸耦合失效)。
智能化應用
基于機器學習的雙軸載荷-失效預測模型(輸入應力分布、材料參數(shù),輸出壽命估計)。
通過融入原位雙軸測試儀,學生可深入理解復雜應力環(huán)境下封裝失效的多物理場耦合機制,掌握先進封裝可靠性分析的核心技術,契合行業(yè)對高精度、多維度測試能力的需求。
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