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蘇州浪聲科學(xué)儀器有限公司

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  • 2024

    08-27

    手持式LIBS技術(shù)在鈹銅合金檢測中的運(yùn)用

    在當(dāng)代的材料科學(xué)領(lǐng)域,對于高性能合金的需求與日俱增,其中鈹銅合金以其優(yōu)秀的導(dǎo)熱性和電導(dǎo)率,廣泛應(yīng)用于電子、通訊和航空航天行業(yè)。然而,要確保這些材料的性能達(dá)到預(yù)期標(biāo)準(zhǔn),對其成分的精確控制與分析至關(guān)重要。傳統(tǒng)的成分分析技術(shù)往往需要復(fù)雜的樣品預(yù)處理和長時(shí)間的測試周期,對快速制造和質(zhì)量控制提出了挑戰(zhàn)。在這一背景下,手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)技術(shù)的出現(xiàn),為鈹銅合金的快速和非破壞性檢測提供了新的思路。手持式LIBS設(shè)備的核心優(yōu)勢在于其便攜性和易用性。操作人員可以方便地將設(shè)備攜帶至不同的現(xiàn)場環(huán)境,包括
  • 2024

    07-19

    全反射X射線熒光光譜技術(shù):環(huán)境監(jiān)測領(lǐng)域的革命性工具

    在環(huán)境科學(xué)和污染監(jiān)控領(lǐng)域,對污染物的精確測量一直是科學(xué)研究和環(huán)境保護(hù)的核心任務(wù)。全反射X射線熒光光譜技術(shù)(TXRF)作為一種先進(jìn)的分析技術(shù),以其高靈敏度和低檢測限的特點(diǎn),為環(huán)境監(jiān)測提供了強(qiáng)大的支持。本文將深入探討TXRF技術(shù)的工作原理,分析軟件的特點(diǎn),并展望其在環(huán)境監(jiān)測領(lǐng)域的應(yīng)用前景。工作原理TXRF技術(shù)通過利用高亮度微焦斑固定靶點(diǎn)光源產(chǎn)生一束精準(zhǔn)的X光束。這束X光通過真空正交背靠背X射線人工多層反射聚焦鏡進(jìn)行二次反射,從而顯著縮減光束的能量范圍至非常窄。這樣產(chǎn)生的細(xì)致光束以極小的角度(小于0.
  • 2024

    06-28

    浪聲TX3000全反射X射線熒光光譜儀在食品重金屬檢測中的應(yīng)用

    TX3000全反射X射線熒光光譜儀經(jīng)過浪聲科學(xué)多年的XRF技術(shù)沉淀,專為元素分析和痕量分析而設(shè)計(jì)。在食品重金屬檢測中,它能夠在極低的背景噪聲條件下實(shí)現(xiàn)高靈敏度檢測,快速進(jìn)行定量和半定量多重元素微量分析,為食品中痕量元素分析提供了高效率、高靈敏度的解決方案。使用優(yōu)勢包括:ng-μg級極少量樣品分析:該方法只需極少量的樣品即可進(jìn)行準(zhǔn)確分析,非常適用于樣品量有限的情況,如在檢測高價(jià)值的食品或小份樣品時(shí)。多元素同時(shí)分析:TX3000可以同時(shí)檢測包括鉻、鉛在內(nèi)的8大主要重金屬元素,還可以根據(jù)檢測需求進(jìn)行元
  • 2024

    05-14

    XRF在白云石和石灰石成分分析中的應(yīng)用

    簡介白云石和石灰石是兩種常見的重要工業(yè)原料,被廣泛應(yīng)用于冶金、建材、化工、輕工、農(nóng)業(yè)等行業(yè)。石灰石,主要成分是碳酸鈣(CaCO3),通常呈白色或淺灰色,質(zhì)地較為柔軟。白云石,化學(xué)式為CaMg(CO3)2,是由碳酸鈣和碳酸鎂組成的礦物,通常呈白色、灰色或粉紅色,質(zhì)地較硬,具有較高的抗壓強(qiáng)度。盡管它們在化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)上有一定的相似性,但它們之間還是存在一些明顯的區(qū)別。事實(shí)上,在發(fā)現(xiàn)石灰石沉積物的地區(qū),也會常常發(fā)現(xiàn)白云石.大多數(shù)白云石的沉積物含有一定比例的石灰石.區(qū)別白云石的重要依據(jù)是巖石中白云石礦物
  • 2024

    05-06

    【技術(shù)】礬土中主要成分及微量元素的含量分析

    礬土,也稱鋁礬土或鋁土礦,是一種以氧化鋁(Al2O3)為主要成分的土狀礦物,含有雜質(zhì)的水合氧化鋁。它通常呈白色或灰白色,但因含有氧化鐵可能呈現(xiàn)褐黃或淺紅色。礬土在自然界中廣泛存在,其的主要成分是氧化鋁(Al2O3),此外,礬土中的次要成分可能包括硫(S)、鈣(Ca)、鎂(Mg)、鉀(K)、鈉(Na)、碳酸根(CO3)^2-、錳(Mn)等,微量成分可能包括鎵(Ga)、鍺(Ge)、鈮(Nb)、鉭(Ta)、鋱(Ta)、鈷(Co)、鋯(Zr)、釩(V)、磷(P)、鉻(Cr)、鎳(Ni)。礬土被廣泛應(yīng)用于
  • 2024

    04-30

    鍍層測厚儀在電解銅箔中的應(yīng)用

    電解銅箔(Electrodepositedcopper)是指以銅料為主要原料,采用電解法生產(chǎn)的金屬銅箔。將銅料溶解后制成硫酸銅電解溶液,然后在專用電解設(shè)備中將硫酸銅電解液通過直流電電沉積而制成箔,再對其進(jìn)行表面粗化、防氧化處理等一系列處理,最后經(jīng)分切檢測后制成成品。電解銅箔分類1、按厚度可以分為厚銅箔(大于70μm)、常規(guī)厚度銅箔(大于18μm而小于70μm)、薄銅箔(大于12μm而小于18μm)、超薄銅箔(小于12μm);2、按表面狀況可以分為單面處理銅箔(單面毛)、雙面處理銅箔(雙面粗)、光
  • 2024

    04-29

    關(guān)于XRD樣品制備的常見影響因素

    XRD樣品的制備是X射線衍射分析的關(guān)鍵步驟,它對實(shí)驗(yàn)的成功率和結(jié)果的科學(xué)意義具有深遠(yuǎn)影響。為了提升分析的準(zhǔn)確性和可靠性,必須細(xì)致考慮并嚴(yán)格控制以下常見影響因素。以下是一些主要的影響因素:樣品形態(tài)和尺寸:金屬樣品需要磨成平面,面積不小于10X10毫米。樣品顆粒大小會影響衍射強(qiáng)度和峰寬。樣品研磨:樣品應(yīng)研磨至一定細(xì)度,但過度研磨可能會破壞晶體結(jié)構(gòu)。壓片:樣品壓片過程中需保持表面平整均勻,避免顆粒物存在。擇優(yōu)取向:對于棒狀、片狀、細(xì)針狀微晶粉末樣品,制作樣品時(shí)應(yīng)避免擇優(yōu)取向,這會影響衍射峰的重復(fù)性和強(qiáng)
  • 2024

    04-25

    手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS)的原理及應(yīng)用案例

    LIBS原理手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS)的原理是利用高能量聚焦脈沖激光光束激發(fā)樣品表面,產(chǎn)生等離子體。這個(gè)等離子體燒蝕并激發(fā)樣品中的物質(zhì),隨后通過光譜儀捕獲被等離子體激發(fā)的原子所發(fā)射的光譜。通過分析這些光譜的波長和強(qiáng)度,可以識別樣品中的元素組成成分,進(jìn)而進(jìn)行材料的識別、分類、定性以及定量分析。LIBS技術(shù)特點(diǎn)LIBS技術(shù)具有快速直接分析、幾乎不需要樣品制備、可以檢測幾乎所有元素、同時(shí)分析多種元素、對樣品表面風(fēng)化、塵土層形成清潔、可實(shí)現(xiàn)逐層分析且可以檢測幾乎所有固態(tài)樣品、遠(yuǎn)距離探測等優(yōu)點(diǎn),
  • 2024

    04-17

    XRF技術(shù)在RoHS檢測中的應(yīng)用

    RoHS檢測是一種針對電子和電氣設(shè)備中特定有害物質(zhì)含量的檢測,以確保這些產(chǎn)品符合歐盟立法制定的RoHS(RestrictionofHazardousSubstances)指令要求。該指令旨在限制電子電器產(chǎn)品中某些有害成分的使用,以保護(hù)人類健康和環(huán)境。RoHS檢測的目的是確保產(chǎn)品中限制使用的有害物質(zhì)含量不超過規(guī)定的限值,這些有害物質(zhì)包括鉛(Pb)、水銀(Hg)、鎘(Cd)、六價(jià)鉻(Cr)、多溴化聯(lián)苯(PBB)和多溴化聯(lián)苯醚(PBDE)等。RoHS檢測可以采用多種方法進(jìn)行,包括但不限于無損X射線熒光
  • 2024

    04-15

    XRF在含錸礦體快速識別中的應(yīng)用研究

    錸是一個(gè)真正的稀散金屬,錸多以微量伴生于鉬、銅、鉛、鋅、鉑、鉭、鈮、稀土等礦物中,含量都很低。金屬錸發(fā)現(xiàn)遲應(yīng)用遲,但它是既稀有又具有神奇應(yīng)用的貴重金屬,被廣泛用于現(xiàn)代工業(yè)各部門,比如,石油工業(yè)和汽車工業(yè)催化劑,石油重整催化劑,電子工業(yè)和航天工業(yè)用錸合金等,其中,當(dāng)前錸主要應(yīng)用在關(guān)乎國家安全的航空航天領(lǐng)域,同時(shí)也在世界各國發(fā)展戰(zhàn)略關(guān)注的高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用,被稱為“航空金屬”、“超級金屬”、“戰(zhàn)略金屬”。錸的賦存狀態(tài)復(fù)雜,導(dǎo)致在實(shí)地難以直接識別巖石樣本的礦化潛力,通常需要實(shí)驗(yàn)室的詳
  • 2024

    04-12

    XRD在TCO薄膜中的應(yīng)用

    透明導(dǎo)電氧化物(TransparentConductiveOxides,簡稱TCO)薄膜是一類具有高可見光透射率和低電阻率的材料,廣泛應(yīng)用于各種光電器件中。常見的TCO薄膜主要分為氧化銦錫(ITO)薄膜、摻鋁的氧化鋅(AZO)薄膜、摻氟的氧化錫(FTO)薄膜、摻銻的氧化錫(ATO)薄膜、摻鎵的氧化鋅(GZO)薄膜、摻雜其他元素的氧化鋅(ZnO)薄膜、鈦氧化物(TiO2)基薄膜等。這些TCO薄膜材料因其優(yōu)異的光電性能,在太陽能電池、平板顯示器、觸摸屏、有機(jī)發(fā)光二極管等光電子器件中發(fā)揮著重要作用。隨
  • 2024

    04-11

    新一輪找礦突破在行動,浪聲手持式礦石分析儀來助力!

    找礦突破行動對于國家具有至關(guān)重要的戰(zhàn)略意義。首先,它是保障國家能源資源安全的關(guān)鍵舉措,通過增加國內(nèi)礦產(chǎn)資源儲量,減少對外依賴,確保資源供應(yīng)穩(wěn)定。其次,行動推動了經(jīng)濟(jì)社會發(fā)展,為工業(yè)生產(chǎn)和基礎(chǔ)設(shè)施建設(shè)提供必需的原材料,促進(jìn)相關(guān)產(chǎn)業(yè)鏈的繁榮和就業(yè)機(jī)會的增加。目前,新一輪的找礦突破行動正在如火如荼地進(jìn)行中!浪聲手持式礦石分析儀為找礦突破行動提供了一種高效、便攜的現(xiàn)場元素分析解決方案。在采礦活動的各個(gè)階段,從基層勘探開發(fā)到礦石品位控制,甚至環(huán)境調(diào)查等情況下,該分析儀都能夠提供快速、準(zhǔn)確的元素分析結(jié)果。相
  • 2024

    04-08

    XRF和XRD在鹵水分析中的運(yùn)用

    鹵水資源是指含有較高濃度溶解鹽類和其他礦物質(zhì)的水體資源,這些水體通常來源于地下或地表的鹽湖、鹽礦、海水等。鹵水中的礦物質(zhì)成分多樣,包括但不限于氯化鈉(食鹽)、鉀、鎂、鋰、硼等,應(yīng)用覆蓋了能源儲存與電動汽車行業(yè)、化工、農(nóng)業(yè)、食品加工、醫(yī)療、新能源與核工業(yè)、環(huán)境保護(hù)和科學(xué)研究等多個(gè)領(lǐng)域,具有重要的經(jīng)濟(jì)和社會價(jià)值。鹵水成分分析的目的是為了更好地了解和利用這些資源,通過對鹵水中的元素種類和含量的測定,可以指導(dǎo)鹵水資源的合理開發(fā)和綜合利用。鹵水成分分析通常涉及多種分析技術(shù),包括X射線熒光光譜分析(XRF)
  • 2024

    04-03

    【技術(shù)】手持LIBS分析儀的日常維護(hù)方法

    手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀是一種設(shè)計(jì)精巧、操作簡便的便攜式分析設(shè)備。由于其便攜性,手持LIBS分析儀可以在實(shí)驗(yàn)室以外的環(huán)境中使用,如現(xiàn)場工作、戶外勘探或遠(yuǎn)程地區(qū),這極大地?cái)U(kuò)展了其應(yīng)用范圍。在材料成分分析領(lǐng)域,它可以用于快速識別和定量金屬、合金、礦石以及其他固體、液體甚至氣體樣品中的元素,從而在質(zhì)量控制、廢舊材料回收和地質(zhì)勘探中發(fā)揮重要作用。在環(huán)境監(jiān)測方面,手持LIBS分析儀可以用于檢測土壤、水體和大氣中的污染物,幫助評估環(huán)境健康狀況并指導(dǎo)污染防治措施。此外,手持LIBS分析儀在安全和應(yīng)急響應(yīng)、法醫(yī)
  • 2024

    04-02

    常用的電池材料分析機(jī)器——XRD

    電池材料分析在電池研發(fā)和制造過程中起著至關(guān)重要的作用。它有助于了解和優(yōu)化電池的性能,提高電池的安全性和壽命,降低成本,并推動新材料的開發(fā)和應(yīng)用。以下常用的分析機(jī)器:1.X射線衍射儀(XRD):用于分析材料的晶體結(jié)構(gòu)和物相組成,識別晶體中的雜質(zhì)相。2.掃描電子顯微鏡(SEM):提供材料的微觀形貌和表面結(jié)構(gòu)信息,可用于觀察電極材料的顆粒大小和形貌。3.透射電子顯微鏡(TEM):提供材料的高分辨率電子顯微圖像,可用于分析晶體結(jié)構(gòu)、晶界、缺陷等。4.原子力顯微鏡(AFM):通過掃描樣品表面,可以測量納米
  • 2024

    04-01

    XRF技術(shù)在玻璃成分檢測中的應(yīng)用

    引言玻璃作為一種廣泛應(yīng)用于建筑、汽車、電子和容器等多個(gè)行業(yè)的材料,其質(zhì)量和性能在很大程度上取決于其成分。傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法雖然準(zhǔn)確,但耗時(shí)且破壞性較大。X射線熒光光譜分析(XRF)技術(shù)以其快速、準(zhǔn)確和非破壞性的特點(diǎn),成為玻璃成分檢測的理想選擇。本文將探討XRF技術(shù)在玻璃成分檢測中的應(yīng)用,以及其帶來的優(yōu)勢和挑戰(zhàn)。XRF技術(shù)原理XRF是一種基于樣品在激發(fā)源作用下發(fā)射特征X射線的分析技術(shù)。在XRF分析中,樣品被X射線或其他高能輻射源激發(fā),導(dǎo)致樣品內(nèi)部原子的電子被移出其軌道。這些電子在返回到原來的軌道時(shí)
  • 2024

    03-20

    貴金屬XRF分析儀助力珠寶商提高市場競爭力

    貴金屬XRF分析儀在貴金屬行業(yè)中扮演著至關(guān)重要的角色,它通過無損、快速且精確的X射線熒光光譜技術(shù),能夠?qū)?、銀、鉑等貴金屬及其合金的成分進(jìn)行實(shí)時(shí)分析,從而幫助珠寶商和金屬加工企業(yè)確保產(chǎn)品質(zhì)量、優(yōu)化生產(chǎn)流程、提高客戶滿意度,并在回收和交易過程中確保貴金屬的真實(shí)性和價(jià)值,同時(shí),其便攜性和易用性也使得現(xiàn)場快速檢測成為可能,極大地提升了整個(gè)行業(yè)的運(yùn)營效率和市場競爭力。貴金屬XRF(X射線熒光光譜)分析儀具有多種優(yōu)點(diǎn),使其成為珠寶鑒定、金屬加工和回收等行業(yè)中重要的工具,主要可以為珠寶商提供了以下幾方面的幫
  • 2024

    02-01

    XRF在硅石化學(xué)成分分析中的應(yīng)用

    什么是硅石?硅石是一種重要的化工原料,主要用于生產(chǎn)耐火磚、單晶硅、水泥等,在工業(yè)中有著重要的地位。目前在世界上很多國家都擁有硅石礦,而且大多數(shù)硅石礦的礦石純度高、礦石含量大。我們在日常生活中最長見的水泥、陶瓷之中就可能含有硅石成分,所以硅石雖然聽起來很陌生,可實(shí)際上和我們的生活密切相關(guān)。硅石是脈石英、石英巖、石英砂巖的總稱,化學(xué)式SiO2。化學(xué)性質(zhì)很穩(wěn)定,不溶于水也不跟水反應(yīng),不跟一般的酸起作用,能與氟化氫氣體或氫氟酸反應(yīng)生成四氟化硅氣體。硅石大量用作建筑材料的原料,也是無機(jī)鹽工業(yè)的重要原料。用
  • 2024

    01-04

    浪聲ScopeX980CS臺式抽真空分析儀在球團(tuán)礦成分分析中的應(yīng)用案例

    球團(tuán)礦簡介球團(tuán)礦是一種鐵礦石精礦,通常由一系列鐵礦石、添加劑和結(jié)合劑混合而成,通過球團(tuán)化過程形成球團(tuán)。這種球團(tuán)化的過程有助于提高鐵礦石在高爐中的冶煉性能。球團(tuán)礦主要由鐵礦石、添加劑和結(jié)合劑組成成分鐵礦石:鐵礦石是球團(tuán)礦的主要原料,其中主要包含鐵的氧化物。最常見的鐵礦石類型是赤鐵礦(Fe2O3)和磁鐵礦(Fe3O4)。添加劑:為了改善球團(tuán)礦的性能,通常會添加一些輔助物質(zhì),如石灰石(CaCO3)、二氧化硅(SiO2)、鋁土礦(Al2O3)等。這些添加劑可以調(diào)節(jié)球團(tuán)礦的化學(xué)成分,提高其在冶煉過程中的流
  • 2024

    01-02

    燒結(jié)礦的質(zhì)量要求及X熒光法分析

    燒結(jié)礦是以鐵礦精礦為主要原料,加入一定量的燒結(jié)輔料,通過混合、成型和燒結(jié)等工藝制成的鐵礦石熔煉原料。燒結(jié)礦的主要成分是Fe、SiO2、Al2O3、CaO、MgO、S等元素和少量的鈦、鉻、錳等微量元素。燒結(jié)礦的生產(chǎn)過程相對簡單,包括混合、球團(tuán)化、烘干、燒結(jié)等步驟,最終成品為燒結(jié)礦。燒結(jié)礦作為我國高爐的主要原料,隨著鋼鐵產(chǎn)量的日益增加,對燒結(jié)礦的質(zhì)量要求越來越大,因此燒結(jié)礦的質(zhì)量就顯得尤為重要,燒結(jié)礦的質(zhì)量要求主要包括化學(xué)成分、物理性能與冶金性能三方面內(nèi)容。其中,燒結(jié)礦化學(xué)成分穩(wěn)定是高爐順行的前提條
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