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2023
09-252023
09-19進(jìn)口XRD射線衍射儀是用于研究物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)的儀器
進(jìn)口XRD射線衍射儀是用于研究物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)的先進(jìn)儀器。該儀器利用X射線與物質(zhì)相互作用的原理,通過測(cè)量物質(zhì)對(duì)X射線的衍射模式來確定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)。X射線是一種電磁波,具有很短的波長(zhǎng)和很高的能量。當(dāng)X射線穿過物質(zhì)時(shí),會(huì)與物質(zhì)內(nèi)部的原子、離子或分子相互作用。其中一種相互作用是散射,當(dāng)X射線遇到物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)時(shí)會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象。衍射是X射線經(jīng)過晶體后,被晶體內(nèi)的平面結(jié)構(gòu)重新散射出來,形成一系列不同的衍射點(diǎn)。每個(gè)衍射點(diǎn)對(duì)應(yīng)于晶體內(nèi)部的一些平面,這些平面的間距和相對(duì)位置決定了物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)。進(jìn)口XRD射線衍射2023
08-272023
08-25高溫環(huán)境XRD是種常用的非破壞性分析技術(shù)
高溫環(huán)境XRD衍射儀是種常用的非破壞性分析技術(shù),可以用來研究物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。然而,在高溫環(huán)境下進(jìn)行XRD研究卻是一項(xiàng)挑戰(zhàn)。高溫環(huán)境下,樣品受到了高溫的熱膨脹和晶體結(jié)構(gòu)的改變等影響,研究人員需要克服這些困難,以獲取準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。在進(jìn)行之前,需要準(zhǔn)備好高溫下穩(wěn)定的樣品。高溫樣品制備一般采用多種方法,如粉末冶金、電弧濺射、激光熔煉等。這些方法可以使樣品在高溫下保持結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性,從而得到可靠的XRD數(shù)據(jù)。高溫環(huán)境XRD衍射儀在多個(gè)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。例如,在材料科學(xué)中,研究人員可以通過高溫XRD來研究材2023
08-182023
07-312023
06-02高光譜成像技術(shù)具有哪些優(yōu)勢(shì)功能?
高光譜成像技術(shù)是基于非常多窄波段的影像數(shù)據(jù)技術(shù),它將成像技術(shù)與光譜技術(shù)相結(jié)合,探測(cè)目標(biāo)的二維幾何空間及一維光譜信息,獲取高光譜分辨率的連續(xù)、窄波段的圖像數(shù)據(jù)。高光譜成像技術(shù)發(fā)展迅速,常見的包括光柵分光、聲光可調(diào)諧濾波分光、棱鏡分光、芯片鍍膜等??梢詰?yīng)用在食品安全、醫(yī)學(xué)診斷、航天領(lǐng)域等領(lǐng)域。與其他光譜成像—樣,高光譜成像收集和處理來自電磁波譜的信息。目標(biāo)是獲得場(chǎng)景圖像中每個(gè)像素的光譜,可用于尋找物體,識(shí)別材料或檢測(cè)過程。其光譜成像有兩種,其一是推掃式掃描,它能夠隨著時(shí)間的推移讀取圖像,其二是快照高2023
05-30煤巖分析系統(tǒng)具有哪些優(yōu)點(diǎn)?
煤巖分析系統(tǒng)是一種用于冶金工程技術(shù)領(lǐng)域的分析儀器,用于巖礦、石油顯微組織的觀察與分析以及煤炭的反射率及焦炭組分分析。其優(yōu)點(diǎn)有哪些?(1)測(cè)定速度快:每分鐘測(cè)定1000點(diǎn);(2)測(cè)定點(diǎn)數(shù)多:至少測(cè)定1萬點(diǎn);(3)測(cè)定省時(shí)省力;(4)不受人為因素干擾,測(cè)定結(jié)果客觀公正;(5)測(cè)定符合統(tǒng)計(jì)規(guī)律,測(cè)定結(jié)果重現(xiàn)性與再現(xiàn)性都優(yōu)于有關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn);(6)可滿足焦化企業(yè)應(yīng)用中快速、代表性好等要求;(7)可發(fā)現(xiàn)人工或半自動(dòng)測(cè)定由于測(cè)點(diǎn)少,不能測(cè)定到少量混入成分的問題;Fossil全自動(dòng)煤巖分析系統(tǒng)是一種測(cè)試鏡質(zhì)體反射2023
04-252023
03-202023
03-102023
02-09臺(tái)式掃描電子顯微鏡具有可靠實(shí)用的特點(diǎn)
臺(tái)式掃描電子顯微鏡主要由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集處理系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、圖像處理顯示和記錄系統(tǒng)、樣品室樣品臺(tái)、電源系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)等組成。利用電子和物質(zhì)的相互作用,圖像為立體形象,次級(jí)電子由探測(cè)體收集,并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘?hào),重金屬在電子束的轟擊下發(fā)出次級(jí)電子信號(hào),其中包括彈性背反射電子和非彈性背反射電子。具有超高分辨率,能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理,利用二次電子成像原理,在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上,低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細(xì)胞、微生物以及生2023
02-03ISS PC1熒光光譜儀具有哪些優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)?
熒光光譜儀又稱熒光分光光度計(jì),是一種定性、定量分析的儀器。通過熒光光譜儀的檢測(cè),可以獲得物質(zhì)的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率、熒光強(qiáng)度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性,以及熒光的淬滅方面的信息。ISSPC1熒光光譜儀是一款高靈敏度,高集成,計(jì)算機(jī)控制的光子計(jì)數(shù)熒光光譜儀,廣泛應(yīng)用于物理化學(xué),生物化學(xué),生理學(xué),神經(jīng)化學(xué),分子生物,環(huán)境分析和免疫測(cè)定等科研領(lǐng)域。主要特征:1、高靈敏度緊湊化設(shè)計(jì),優(yōu)化光路,以便樣品采樣室內(nèi)能接受到ZEI大的激發(fā)光照。緊湊集成設(shè)計(jì)使得儀器能在極低量子產(chǎn)率下,2023
02-02高溫環(huán)境XRD的這些知識(shí)值得我們學(xué)習(xí)
高溫環(huán)境XRD管實(shí)質(zhì)上是一個(gè)真空二極管。工作原理:給陰極加上一定的電流被加熱時(shí),便能放出熱輻射電子。在數(shù)萬伏特高壓電場(chǎng)的作用下,這些電子被加速并轟擊陽極(又被稱為靶)。陽極靶面上受電子束轟擊的焦點(diǎn)呈細(xì)長(zhǎng)的矩形狀(稱線焦點(diǎn)或線焦斑),從射線出射窗中心射出的X射線與靶面的掠射角為3°-6°。從出射方向垂直焦斑長(zhǎng)邊的兩個(gè)出射窗口觀察,焦斑呈線狀的稱為線光源;從另外兩個(gè)出射窗口觀察,焦斑如點(diǎn)狀稱為點(diǎn)光源。在衍射儀每次安裝管子時(shí),辨別所使用X射線出射窗口是否為線焦點(diǎn)方向。此外,還要求測(cè)角儀相對(duì)于靶面平面要2023
01-172023
01-092022
12-192022
11-282022
11-23超高壓XRD是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法
超高壓XRD是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。x射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到2022
11-17巖礦分析系統(tǒng)的這些知識(shí)值得我們學(xué)習(xí)
巖礦的成分測(cè)定與分析是地質(zhì)工作的一個(gè)重要組成部分,它的研究對(duì)象主要是天然礦產(chǎn),如巖石、礦物等;主要任務(wù)是利用一些技術(shù)手段(儀器分析、化學(xué)分析等),對(duì)礦物巖石的成分在不同賦存狀態(tài)下的含量及其化學(xué)組成進(jìn)行測(cè)定與分析。巖礦成分的測(cè)定與分析工作具有重要的意義,如何快速準(zhǔn)確的發(fā)現(xiàn)巖礦并給與正確的評(píng)價(jià),是廣大地質(zhì)工作者的首要任務(wù)。可以說,巖礦分析系統(tǒng)與分析工作與我國(guó)的社會(huì)主義現(xiàn)代化建設(shè)有著密不可分的聯(lián)系。巖礦分析系統(tǒng)的基本流程:1.1試樣的加工制作實(shí)際用于測(cè)定分析的試樣一般只需要幾克,因此試樣的加工制作是必以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),化工儀器網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
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