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2023
07-28

透射電鏡氣體高溫原位系統(tǒng)運用了什么技術？
透射電鏡氣體高溫原位系統(tǒng)通過MEMS芯片對樣品施加熱場控制，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現(xiàn)從納米甚至原子層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在氣體環(huán)境下隨溫度變化產(chǎn)生的微觀結構演化、反應動力學、相變、元素價態(tài)、化學變化、微觀應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關鍵信息。透射電鏡氣體高溫原位系統(tǒng)運用了多場耦合技術，可在氣相環(huán)境中實現(xiàn)光、電、熱、流體多場耦合。透射電鏡氣體高溫原位系統(tǒng)具有高的安全性：1．采用納流控技術，通過壓電微控系統(tǒng)進行流體微分控制，實現(xiàn)納升級微量
2023
07-24

Nano Lett. | 原位液相透射電鏡觀測納米通道中滯留液層活化過程
英文原題：InSituTEMObservationofStagnantLiquidLayerActivationinNanochannel通訊作者：Hong-GangLiao（廖洪鋼），廈門大學，廈門大學化學化工學院，固體表面物理化學國家重點實驗室HuiLi（李暉），北京化工大學，軟物質(zhì)科學與工程高精尖創(chuàng)新中心作者：PengXue（薛鵬）,MiQu（曲密）,JieShi（施杰）,YouhongJiang（江友紅）,NanaHe（何娜娜）,TiqingZhao（趙體清）,ShiwenLuo（羅時文
2023
07-18

廈門大學廖洪鋼Angew. Chem.：揭示原子遷移能力對鈉離子電池陽極性能的影響
【工作簡介】在鈉離子電池（SIBs）中，低的初始庫侖效率（ICE）通常是由不可逆的相轉化和困難的解吸引起的，尤其是在過渡金屬化合物（TMCs）上。然而，反應可逆性差的潛在物理化學機制仍然是一個有爭議的問題。近日，廈門大學廖洪鋼教授等團隊通過使用原位透射電子顯微鏡和原位X射線衍射，證明了NiCoP@C是由P在碳層中的快速遷移和放電過程中分離的Na3P的優(yōu)先形成引起的。通過對碳涂層進行改性，抑制了Ni/Co/P原子的遷移，從而提高了ICE和循環(huán)穩(wěn)定性。抑制引起組分分離和快速性能退化的快速原子遷移可能
2023
06-27

掃描電鏡加熱原位系統(tǒng)有怎樣的熱學性能？
掃描電鏡加熱原位系統(tǒng)將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的環(huán)境并且可以對實驗樣品原位加熱?？蓪悠愤M行可控溫度的加熱，電學測量芯片可對樣品進行電性質(zhì)測量。并可在進行加熱和電學測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征，極大拓展了透射電鏡的功能和應用范圍。使用同一個SEM樣品臺既可以實現(xiàn)不同的原位解決方案電學、加熱等不同應用。本公司提供的CHIP-NOVA掃描電鏡加熱原位系統(tǒng)有優(yōu)異的熱學性能：1.高精密紅外測溫校正，微米級高分
2023
05-29

透射電鏡雙傾光熱原位系統(tǒng)是怎么控溫的？
在透射電鏡中實時表征材料在加熱或加電條件下原子尺度結構及成分變化對于理解材料的熱學、電學性能以及微觀結構演化具有至關重要的意義。透射電鏡雙傾光熱原位系統(tǒng)通過MEMS芯片和光纖引入的光源在原位樣品臺內(nèi)構建熱、光復合多場自動控制及反饋測量系統(tǒng)，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現(xiàn)從納米甚至原子層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨溫度、光場變化產(chǎn)生的微觀結構、相變、元素價態(tài)、微觀應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關鍵信息。透射電鏡雙傾光熱原位系統(tǒng)具有優(yōu)異的熱
2023
04-24

多孔氮化硅TEM載網(wǎng)有什么作用？
透射電子顯微鏡(TEM)是使用較為廣泛的電子顯微鏡之一，和掃描電子顯微技術共同組成了電子顯微學的“兩大支柱”。TEM的測試原理是利用透過樣品的電子進行成像和結構分析，由于電子的穿透能力較弱，樣品的厚度、導電性、磁性和分散性等特征對測試結果的好壞起到直接的影響。因此，相比于掃描電鏡樣品的制備，透射電鏡的制樣更加復雜和精細，對于不同的材料應當根據(jù)其特性并采用合適的制樣方法。TEM測試中，為了獲取高質(zhì)量的樣品圖像，制樣很關鍵。在制樣的過程中，其中載網(wǎng)的選擇也是至關重要。載網(wǎng)通常是一種多孔的金屬片，對樣
2023
03-30

透射電鏡三維重構樣品桿是如何獲得成像信息的？
透射電鏡是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件上顯示出來的顯微鏡。透射電鏡三維重構樣品桿基于樣品端超薄設計或360°旋轉設計，滿足生命科學、材料科學領域對三維重構表征的不同需求。透射電鏡三維重構樣品桿通過一系列不同傾斜角獲得樣品的二維平面成像信息，使用軟件處理后可獲得三維立體成像信息。直接使用3mm銅網(wǎng)樣品進行觀察，支持掃描透射模式下的高
2023
03-23

透射電鏡液體光學原位系統(tǒng)運用的技術有哪些？
透射電鏡液體光學原位系統(tǒng)采用MEMS微加工工藝在原位樣品臺內(nèi)構建液氛納米實驗室，通過樣品臺內(nèi)置的光纖將光作為外場條件搭載其上，通過MEMS芯片和光纖引入的光源對樣品施加光場刺激條件，在進行光學性質(zhì)測量的同時，結合使用EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現(xiàn)從納米甚至原子層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在液氛環(huán)境中隨光場變化產(chǎn)生的微觀結構演化、反應動力學、相變、元素價態(tài)、化學變化、微觀應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關鍵信息。實驗中，樣品被密封在超薄氮化硅薄膜覆蓋的液體
2023
02-20

您了解透射電鏡力電原位系統(tǒng)嗎？
透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。透射電鏡力電原位系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征。本公司提供的透射電鏡力電原位系統(tǒng)是通過MEMS芯片在原位樣品臺內(nèi)構建力、電復合多場自動控制及反饋測量系統(tǒng)，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現(xiàn)從納米層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨電場、施加
2022
12-29

為什么要使用高真空存桿儀？
若TEM樣品桿長期暴露于大氣，空氣中水汽及殘留污染物會附著于樣品桿表面。當樣品桿重新安裝樣品并插入TEM中時，會發(fā)生：1.樣品桿表面(包括桿內(nèi)外表面)殘存水汽緩慢地釋放，大大延長了TEM抽真空時間(由于原位TEM樣品桿內(nèi)部結構復雜，內(nèi)表面積大大增加，其進入TEM后抽真空延時現(xiàn)象尤甚)；2.殘留污染物會污染待觀察樣品，甚至會污染TEM真空腔室及內(nèi)部極靴、探測器等等。高真空存桿儀的極限真空度為10-6mBar(以10桿型號為例，用戶可定制4桿、6桿等不同型號)，為樣品桿提供高真空存放環(huán)境，可防止樣品
2022
11-11

什么是透射電鏡4孔樣品桿？使用時該注意什么？
材料的宏觀性能往往與其本身的成分、結構以及晶體缺陷中原子的位置等密切相關，在電子顯微鏡下觀察微觀結構離不開樣品桿或樣品臺。樣品桿的重要性還在于它是要插側入式的樣品放置在一個較長的金屬入物鏡，色差又與物鏡性能相關聯(lián)，這也就桿的*端，金屬通常是黃銅或不銹鋼，沿著使樣品桿與TEM的分辨率聯(lián)系在一起。透射電鏡4孔樣品桿可將最多4個樣品同時置入透射電鏡中，與市面常見的3孔樣品桿相比，大幅提高透射電鏡的使用效率。全新的結構設計及超高精度的旋鈕換樣方式，幫助降低漂移率，提高成像質(zhì)量。透射電鏡4孔樣品桿采用高精
2022
10-25

原位電鏡領域的技術先鋒
CreateWorld-LeadingIn-SituElectronMicroscopySolutions公司簡介CHIPNOVA（超新芯）是早期原位芯片技術開發(fā)研究者、國家高層次引進人才創(chuàng)辦的高科技企業(yè)，致力于為客戶提供全面的原位表征方案，并將相關技術應用服務于民用領域。CHIPNOVA擁有MEMS芯片制造和原位電鏡方面的資深團隊，10余年來產(chǎn)品和技術不斷迭代提升，目前已涉及原位芯片、生化醫(yī)療芯片、集成傳感芯片等。其中原位芯片在材料、催化、能源、環(huán)境、化學、生物等領域廣泛應用，相關成果發(fā)表在S
2022
10-25

CHIPNOVA原位液相電化學解決方案—見微知著，助力科研
公司簡介CHIPNOVA（超新芯）是早期原位芯片技術開發(fā)研究者、國家高層次引進人才創(chuàng)辦的高科技企業(yè)，致力于為客戶提供全面的原位表征方案，并將相關技術應用服務于民用領域。CHIPNOVA擁有MEMS芯片制造和原位電鏡方面的資深團隊，10余年來產(chǎn)品和技術不斷迭代提升，目前已涉及原位芯片、生化醫(yī)療芯片、集成傳感芯片等。其中原位芯片在材料、催化、能源、環(huán)境、化學、生物等領域廣泛應用，相關成果發(fā)表在Science、Nature子刊等SCI期刊上，服務包括北大、浙大等眾多高校和科研單位，推動了相關領域的科技
2022
10-25

CHIPNOVA原位透射電鏡解決方案及應用案例-力-熱系統(tǒng)
力-熱系統(tǒng)系統(tǒng)組成圖1技術指標力-熱樣品臺高精度力學傳感芯片加熱芯片高精度控溫模塊三維運動控制模塊力學數(shù)據(jù)采集及計算模塊力學測試：壓縮、拉伸、恒定力、恒位移設備工作流程圖2視頻1鎢納米柱原位壓縮實驗測試前，利用FIB將樣品焊接加熱芯片端，將金剛石焊接在力學傳感端，力學測試過程中，加熱芯片跟隨運動控制模塊向前運動，并力學傳感芯片接觸受力，樣品在加熱條件下發(fā)生壓縮或拉伸。力學傳感器圖3運動控制模塊圖4高溫加熱模塊圖5應用案例圖6鎢納米柱受力發(fā)生彈性形變過程圖7鎢納米柱原位壓縮實驗圖8鎢納米片原位壓縮
2022
10-10

在測試鎢納米柱的試驗中力電原位系統(tǒng)有什么作用？
力電原位系統(tǒng)是通過MEMS芯片在原位樣品臺內(nèi)構建力、電復合多場自動控制及反饋測量系統(tǒng)，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現(xiàn)從納米層面實時、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨電場、施加力變化產(chǎn)生的微觀結構、相變、元素價態(tài)、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等關鍵信息。鎢納米柱原位力學壓縮過程：鎢納米柱受力發(fā)生彈性形變過程中，彈性形變和塑性形變過程強度和塑性是結構材料應用的關鍵特征，位錯在調(diào)控材料強度和塑性的過程中扮演了重要角色，一般來說，位錯滑移越難，材料的強度就越
2022
09-08

TEM氣體電-熱樣品臺是如何測量樣品的？
樣品臺裝配體包括臺階主體和凹形板兩部分。其特征在于：臺階主體呈三層臺階形狀；每一層表面都有不等數(shù)量的針孔；臺階主體兩邊加工有圓弧曲面；周身加工有孔；底部加工有燕尾槽。凹形板呈兩邊凸起中間凹下形狀；兩邊凸起處有針腳孔和螺紋沉孔；凹形板周身加工有孔。TEM氣體電-熱樣品臺可用于電鏡樣品在不同的高溫條件下的結構表征。該產(chǎn)品通過電場控制器對樣品施加偏壓，配合電學系統(tǒng)控制程序保證微反應系統(tǒng)穩(wěn)定可靠運行及實時測量，該控制程序非常適合各種電子器件的電流、電壓特性分析和功能測試，如：功率半導體材料、功率器件、能
2022
08-09

雙傾光熱原位系統(tǒng)由哪些模塊組成？
雙傾光熱原位系統(tǒng)的組成模塊有雙傾模塊、加熱模塊及光學模塊。以下是各個模塊的作用：1、雙傾模塊該模塊包含原位雙傾樣品臺、電路系統(tǒng)、β傾轉角度控制器、程序控制系統(tǒng)及相關組件。具有穩(wěn)定性好、控制精度高、傾轉角度高(最大可達±25°)且連續(xù)可控、程序自動化控制、可選擇裝載不同功能的原位芯片等優(yōu)點。2、加熱模塊該模塊包含超低飄移原位高溫加熱芯片(RT-1300℃)、高頻反饋溫度控制器、高精度程序控溫系統(tǒng)，具有控溫精度高、溫度穩(wěn)定性好(0.01℃)等優(yōu)勢?？梢詫崿F(xiàn)程序升溫、保溫、降溫全過程的連續(xù)高分辨成像，
2022
07-19

為什么要使用TEM固體超高溫加熱樣品臺？
樣品臺作為一種常用的試驗檢測裝備，經(jīng)常須要對樣品舉行加熱，現(xiàn)有的樣品臺在加熱時，通常是在底部加熱，或者采取水浴加熱，而這些加熱方法都是傳導加熱，熱量須要從邊緣向中心傳遞，這樣存在加熱不均勻，而為認識決加熱均勻性的問題，通常會在樣品臺上增設攪拌裝備或者在底部做磁攪拌,增設機械攪拌在須要攪拌時須要調(diào)劑攪拌槳的地位在攪拌結束后又須要挪走，操做麻煩。超新芯提供的TEM固體超高溫加熱樣品臺采用具有耐高溫且惰性材料的鎢絲作為加熱元件，具有優(yōu)異的力學和熱學性能，能夠使樣品加熱到1500℃以上。我們提供的原位加
2022
06-15

什么是高真空存桿儀？
高真空存桿儀可自由設置為原位樣品臺提供高真空存放環(huán)境，避免樣品臺受到污染，更可清潔樣品臺，尤其適用于原位樣品臺。方便研究人員對不同樣品臺的切換，觸屏控制最多可實現(xiàn)10路樣品臺單獨存取。系統(tǒng)可實現(xiàn)真空度檢測及真空度智能維持及漏氣報警功能。高真空存桿儀的結構介紹：1.腔體靠近樣品區(qū)的位置為可視化窗口設計，可直接觀察樣品桿上的樣品、芯片等，方便操作。接口模塊包含真空閥，用以在電源關閉時保持真空狀態(tài)，或在取桿時實現(xiàn)氣體快速通入，加速樣品桿取出過程。高真空存桿腔體采用模塊化設計，支持多個廠家樣品桿，適用廠
2022
05-12

CHIP-NOVA原位透射電鏡力-熱系統(tǒng)解決方案及應用案例（一）
力-熱系統(tǒng)系統(tǒng)組成圖1技術指標力-熱樣品臺高精度力學傳感芯片加熱芯片高精度控溫模塊三維運動控制模塊力學數(shù)據(jù)采集及計算模塊力學測試：壓縮、拉伸、恒定力、恒位移設備工作流程圖2圖2視頻測試前，利用FIB將樣品焊接加熱芯片端，將金剛石焊接在力學傳感端，力學測試過程中，加熱芯片跟隨運動控制模塊向前運動，并力學傳感芯片接觸受力，樣品在加熱條件下發(fā)生壓縮或拉伸。力學傳感器圖3技術指標20uN，k=7(nN/nm)85uN,k=29(nN/nm)150uN，k=50(nN/nm)500uN,k=169(nN/

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