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FR-uProbe 微米級光學(xué)薄膜測厚儀
- 公司名稱 邁可諾技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 FR-uProbe
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/5/16 21:18:43
- 訪問次數(shù) 1958
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),電子,航天,汽車 |
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FR-uProbe是涂層表征應(yīng)用的解決方案,要求光斑尺寸小*小微米,例如微圖案表面,具有不規(guī)則表面的樣品,其表現(xiàn)出高水平的散射光和許多其它。使用FR-uProbe,在UV / Vis / NIR上的局部薄膜厚度,光學(xué)常數(shù),反射率,透射率和吸光度測量只需點擊即可。
FR-uProbe簡單地連接到大多數(shù)商用光學(xué)顯微鏡的C接口適配器,并提供:
o實時光譜測量
o薄膜厚度,光學(xué)性能,非均勻性測量
o使用集成的USB連接和高質(zhì)量彩色相機進行成像
o顯微鏡本身的性能不受影響
工作原理
白光反射光譜(WLRS)測量在一定波長范圍內(nèi)從薄膜或多層疊堆反射的光量,入射光垂直于(垂直于)樣品表面。
通過來自界面的干涉產(chǎn)生的測量的反射光譜用于確定自支撐和支撐(在透明或部分/全反射基板上)薄膜堆疊的厚度,光學(xué)常數(shù)(n和k)等。
應(yīng)用
o大學(xué)和研究實驗室
o半導(dǎo)體(氧化物,氮化物,硅,抗蝕劑等)
o MEMS器件(光刻膠,硅膜等)
o LED
o數(shù)據(jù)存儲
o陽極氧化
o彎曲基板上的硬/軟涂層
o聚合物涂料,粘合劑等
o生物醫(yī)學(xué)(聚對二甲苯,氣球壁厚等)
特征
o 單擊分析(無需初始猜測)
o 動態(tài)測量
o 集成USB攝像頭
o 保存視頻進行演示
o 350+不相同的材料
o 3年免費軟件更新
o 在Windows 7/8/10上運行