一、產(chǎn)品概述：

透射電鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）是一種高分辨率的顯微鏡，利用電子束穿透樣品以獲取其內(nèi)部結構和微觀特性的信息。TEM能夠提供納米級的分辨率，廣泛應用于材料科學、納米技術、生物學和化學等領域。

二、設備用途/原理：

·設備用途

TEM主要用于研究材料的晶體結構、缺陷、相變及其他微觀特性。它在金屬、陶瓷、半導體及生物樣品的分析中發(fā)揮著重要作用，常用于材料的成分分析、晶體取向測定以及納米結構的形貌觀察。

·工作原理

TEM的工作原理是通過加速電子束穿透極薄的樣品。電子束在樣品中與原子相互作用，產(chǎn)生衍射和散射現(xiàn)象。透過樣品的電子被收集并形成圖像。TEM通常配備多種成像模式，如明場、暗場和電子衍射，以提供樣品的不同信息。由于其高分辨率，TEM能夠揭示樣品的細微結構和化學成分，為科學研究和材料開發(fā)提供關鍵數(shù)據(jù)。

三、主要技術指標：

1. 配備了高靈敏度sCMOS相機、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學顯微鏡圖像的聯(lián)動功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微鏡

2. TEM分辨率 (nm)：0.14

3. 加速電壓：10 ～ 120kV

4. 倍率 （TEM）：×10～1,500,000

5. 樣品傾斜角：Tilt-X  ±70°(高傾斜樣品桿)

6. 多樣品裝填數(shù)：4