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HD-2263/ST2263雙電測四探針檢測儀PX 2746
BDST-300C半導(dǎo)材料四探針測試儀PX 3566
WD4000晶圓幾何尺寸量測設(shè)備PX 6531
半導(dǎo)體晶圓缺陷與少子壽命測試系統(tǒng)-SPM900PX 4522
國產(chǎn)晶圓搬運機(jī)PX 6005
GBT17643切口恒載拉伸法土工膜應(yīng)力開裂測試儀PX 6607
CGSR系列光學(xué)膜厚儀PX 3100
SG-OEnlitech CIS/ALS/光傳感器晶圓測試儀PX 2250
MFNA-200福樂FLUORO缺口和定向器PX 3108
KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測試儀PX 3338
Full Deposition PSL Wafer校準(zhǔn)晶圓標(biāo)準(zhǔn)品-半導(dǎo)體表征PX 2939
愛安德晶圓缺陷185LE L專配鹵素?zé)舯?7V185W現(xiàn)貨PX 3517
襯底電阻率方阻測試儀PX 1737
ZS美國MOUNTZ扭矩測試儀維修PX 4682
GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測量儀PX 9956
四探針方阻電阻率測試儀PX 3206
BX-G3487高精度太陽膜透過率測量儀PX 3114
NL-QMS磁控濺射納米顆粒尺寸控制系統(tǒng)PX 2318
PA-110-t晶圓應(yīng)力雙折射測量儀PX 2716
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀PX 3055
RTS-9型雙電測四探針鋰電極片電阻測試儀PX 2709
RM 3000英國Jandel四探針探頭PX 5004
TC-SLQZ型氣動和真空探針土壤采樣PX 2413
UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)PX 7202
LPA12FS-3美國Logosol晶圓預(yù)對準(zhǔn)器PX 2064
YP-150I-日本YAMADA山田半導(dǎo)體檢查燈--備庫銷售PX 2435
Luminous NA-8000日本ULVAC愛發(fā)科半導(dǎo)體灰化裝置NA系列PX 3385
PCD-400AKYOWA共和應(yīng)力測試儀PCD-400B多功放大器PX 3695
芯片X‘ray檢測設(shè)備PX 2638
BXA58超高阻雙電四探針測試儀PX 2806
PZ-332C半導(dǎo)體共面性測量設(shè)備PX 5402
BF1200 361200BAMO電導(dǎo)率探針PX 3690
METREL MI3321多功能安規(guī)測試儀PX 4099
薄膜應(yīng)力測量系統(tǒng)PX 3027
Hologenix微米晶圓缺陷檢測系統(tǒng)PX 2086
HEP-MC8000晶圓檢測機(jī)PX 1983
自由曲面三維面型檢測儀PX 1845
HC系列日本kita電路板接觸式集成彈簧探針PX 4730
FPEH-MX70X晶圓翹曲度測量儀PX 3479
臺式離線接觸式測厚儀TOF-6R001PX 5299
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
晶圓幾何尺寸量測設(shè)備
國產(chǎn)晶圓搬運機(jī)
光學(xué)膜厚儀
晶圓微觀幾何輪廓測量系統(tǒng)
SPM300半導(dǎo)體晶圓應(yīng)力與載流子濃度檢測儀
半導(dǎo)體晶圓缺陷與少子壽命測試系統(tǒng)-SPM900
福樂FLUORO缺口和定向器
KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測試儀
芯片半導(dǎo)體晶圓非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀
聚乙烯土工薄膜應(yīng)力開裂測試儀
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
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