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WD4000系列晶圓幾何尺寸量測設(shè)備通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌
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本設(shè)備利用反射干涉的原理進行無損測量,測量吸收或者透明襯底上薄
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WD4000系列晶圓微觀幾何輪廓測量系統(tǒng)通過非接觸測量,將晶圓的三維
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WD4000晶圓翹曲度幾何量測系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹
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WD4000晶圓微觀三維形貌測量系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、
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WD4000晶圓微納幾何三維形貌測量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測
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WD4000晶圓微納三維形貌量測系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大
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WD4000晶圓細磨硅片粗糙度測量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量

