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LT-2單晶少子壽命測試儀PX 0
XNC-LT2單晶少子壽命測試儀PX 0
晶閘管少子壽命測試儀DBC-352PX 0
KDKLT-1B高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀/高頻光電導(dǎo)壽命測試儀(生產(chǎn)用)KDKLT-1BPX 2968
KDKLT-1高頻光電導(dǎo)壽命測試儀/高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀(學(xué)校用)KDKLT-1PX 2968
KDKLT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀/高頻光電導(dǎo)壽命測試儀(測單晶) KDKLT-100CPX 2968
GDW3-LT-1A高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀(基本型)τ:10~6000μs ρ>3Ω?cm 型號:GDW3-LT-1APX 2968
GDW3-LT1C高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀/高頻光電壽命測試儀 型號:GDW3-LT1CPX 2968
GDW3-LT100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀/高頻光電壽命測試儀型號:GDW3-LT100CPX 2968
ZZ-A13中洲測控多晶硅少子壽命測試儀PX 0
DZ-LT-1高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀PX 3033
ZD-LT-100C硅晶體少子壽命測試儀PX 3033
DZLT-1高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀PX 3033
ZD-LT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀PX 3033
DZ-LT-1高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀DZ-LT-1PX 3033
二手/租賃 WCT-120少子壽命測試儀PX 0
SCFBC-352ZH8670晶閘管少子壽命測試儀PX 3141
SCFBC-352晶閘管少子壽命測試儀PX 2968
HR/DBC-023C國產(chǎn)晶閘管阻斷電壓測試儀|伏安特性測試儀PX 0
HR/DBC-013B晶閘管通態(tài)降壓測試儀價(jià)格PX 0
HR/DBC-013A北京晶閘管通態(tài)峰值電壓測試儀|壓降測試儀PX 0
HR/DBC-352國產(chǎn)晶閘管少子壽命測試儀PX 0
HR/DBC-023A北京耐壓測試儀|伏安特性測試儀PX 0
HR/DBC-023B耐壓測試儀|伏安特性測試儀價(jià)格PX 0
單(多)晶硅少子壽命測試儀PX 0
LT-2LT-2型單晶少子壽命測試儀PX 0
XH-120少子壽命PX 0
AA54-LT-2型單晶少子壽命測試儀PX 0
太陽能級硅少子壽命測試儀PX 0
DP-100A微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測試儀/少子壽命測試儀PX 4824
DP-LT-200數(shù)字式太陽能級硅晶體少子壽命測試儀PX 4824
ZH8204數(shù)字式硅晶體載流子復(fù)合壽命測試儀/少子壽命測試儀(鑄造多晶)PX 3141
ZH8201數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀/高頻光電導(dǎo)壽命測試儀(測單晶)PX 3141
ZH8203高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀/高頻光電導(dǎo)壽命測試儀(生產(chǎn)用)PX 3141
ZH8202高頻光電導(dǎo)壽命測試儀/高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀(學(xué)校用)PX 3141
GDW3-LT-1A高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀(基本型)PX 3141
KDK-LT-1高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀PX 2842
KDKLT-1B高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀/高頻光電導(dǎo)壽命測試儀(生產(chǎn)用)PX 3141
KDKLT-200數(shù)字式硅晶體載流子復(fù)合壽命測試儀/少子壽命測試儀(鑄造多晶)PX 3141
GDW3-LT1C高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀/高頻光電壽命測試儀 LT-1C τ:5~6000μs ρ>0.1Ω?cm PX 3141
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
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離子注入設(shè)備
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濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
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非接觸式晶錠電阻率測試儀
微波法少子壽命
Freiberg Instruments MDPspot少子壽命測試儀
美國Sinton WCT-120+Suns-Voc少子壽命測試儀器
少子壽命測試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)
MDPspot少子壽命測試儀
MDPlinescan在線少子壽命測試儀
光電少子壽命測試儀
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賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
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