高性能薄膜表面檢測系統(tǒng) (FSP600) 參考價：面議
OCS 高性能薄膜表面檢測系統(tǒng) (FSP600)，使用高速攝像機實時檢測快速運動的材料，如塑料薄膜、層壓板和非織造布等，對表面進行完整的持續(xù)掃描，使得缺陷可被立...
全缺口蠕變試驗儀 (FNCT) 參考價：面議
OCS 全缺口蠕變試驗儀 (FNCT)被廣泛應用于表征聚乙烯材料在加速條件下的裂紋擴展行為測試。在此試驗中，方形試樣被置入特定溫度的溶液環(huán)境中，試樣上加工了一個...
電纜料雜質(zhì)檢測實驗線(TCA®) 參考價：面議
OCS 電纜料雜質(zhì)檢測實驗線(TCA®)主要用于測試透明聚合物薄膜（窄帶）的雜質(zhì)缺陷。它由OCS測量擠出機（ME）和配置壓輥的OCS模塊化薄膜分析儀（...
電纜料表面凸起檢測試驗線 (SSA®) 參考價：面議
OCS 電纜料表面凸起檢測試驗線 (SSA®)專門用于檢測電線和電纜行業(yè)中不透明聚合物薄膜（窄帶）的表面不規(guī)則缺陷（點）。SSA®實驗線由一...
臺式凝膠/魚眼/晶點檢測系統(tǒng)(ST4) 參考價：面議
OCS 臺式凝膠/魚眼/晶點檢測系統(tǒng)(ST4) 是一個緊湊的離線型檢測系統(tǒng)，可應用于質(zhì)檢實驗室或研發(fā)實驗室，對透明和不透明的材料如塑料、鋼鐵、紙張、紡織品和非織...
紅外光譜儀 APLAIRS® 參考價：面議
OCS 紅外光譜儀 APLAIRS® 是利用光譜分析方法，聚合物薄膜途經(jīng)APLAIRS的一個特殊紅外采樣區(qū)，經(jīng)紅外光譜儀獲得物料光譜數(shù)據(jù)后，經(jīng)由特別的...
凝膠/魚眼/晶點檢測系統(tǒng) 參考價：面議
OCS 凝膠/魚眼/晶點檢測系統(tǒng)（FSA100V2/FSA200V2）是一個用于聚合物薄膜的模塊化光電檢測系統(tǒng)。它既可用于實驗室離線使用，也可用于生產(chǎn)線在線使用...
高性能吹膜機 參考價：面議
OCS 高性能吹膜機用于制備高質(zhì)量的吹膜薄膜進行聚合物的光學和物理性能測量。所有的參數(shù)和系統(tǒng)設(shè)置都可存儲在液晶觸摸屏微控制器中，如擠出機轉(zhuǎn)速、各段溫度、牽引速度...
高性能流延膜機 參考價：面議
OCS 高性能流延膜機用于制備高質(zhì)量的流延膜進行聚合物的光學和物理性能測量。所有的參數(shù)和系統(tǒng)設(shè)置都可存儲在液晶觸摸屏微控制器中，如擠出機轉(zhuǎn)速、各段溫度、薄膜張力...
熔融指數(shù)儀 (OP5) 參考價：面議
OCS 熔融指數(shù)儀 (OP5)主要用于測量聚合物粉末或顆粒樣品的熔體指數(shù)（MI）。
X-射線粒子掃描儀 (XP7) 參考價：面議
OCS X-射線粒子掃描儀 (XP7) 能檢測出高度透明和不透明顆粒中的金屬缺陷，從而提高聚合物的產(chǎn)品質(zhì)量。XP7測量系統(tǒng)中創(chuàng)新的X射線技術(shù)可實時分析粒子流的圖...
高速粒子掃描及分揀系統(tǒng) (PS800C) 參考價：面議
OCS 高速粒子掃描及分揀系統(tǒng) (PS800C) 用于對透明和不透明粒子進行雜質(zhì)檢測和分析，尤其適用于高透明粒子。樹脂粒子在自由落體狀態(tài)下通過兩個獨立的彩色線掃...
粉末顆粒污染檢測儀 (PT2C) 參考價：面議
OCS 粉末顆粒污染檢測儀 (PT2C)，用于對可自由流動的粉末狀材料進行分析，粉末材料通過一個料斗引入振動平臺，使用高分辨率彩色攝像機進行分析，檢測其中的缺陷...
樹脂粒子分析儀 (PA66) 參考價：面議
模塊化的OCS樹脂粒子分析儀 (PA66)由以下部分組成：粒子黑點雜質(zhì)檢測儀 (PS25C）可以檢測出與產(chǎn)品顏色有偏差的雜質(zhì)粒子尺寸和形狀分布測試儀 (PSSD...
色度測量儀 (CM3) 參考價：面議
OCS色度測量儀 (CM3)，可以在帶有檢測玻璃的測量通道中通過顏色光譜儀對所有類型的顆粒進行分析。CM3通常連接在樹脂粒子黑點雜質(zhì)檢測儀（PS25C）的上端。...
粒子尺寸和形狀分布測試儀 (PSSD) 參考價：面議
OCS 粒子尺寸和形狀分布測試儀 (PSSD)用于對顆粒的尺寸和形狀分布進行快速分析和分級，同時對物料外觀缺陷進行快速檢測。待測物料通過振動平臺傳送至末端以自由...
粒子黑點雜質(zhì)檢測儀 (PS25C) 參考價：面議
OCS 粒子黑點雜質(zhì)檢測儀 (PS25C)，用于對透明和不透明樹脂粒子進行檢測，這些粒子通過一個料斗引入振動平臺，使用高分辨率彩色攝像機進行分析，檢測其中的缺陷...
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