涂層測(cè)厚儀ED400 

涂層測(cè)厚儀ED400適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，測(cè)量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。

* 膜厚校正片

 膜厚校正片是儀器的計(jì)量基準(zhǔn)。的膜厚校正片全部經(jīng)過技術(shù)監(jiān)督部門的檢測(cè)，附有檢測(cè)報(bào)告。這一點(diǎn)在國(guó)內(nèi)外儀器中都是不多見的。它保證了儀器計(jì)量的準(zhǔn)確性和可靠性。

* 探頭

 測(cè)厚儀zui容易損壞的部件是探頭，本公司的對(duì)探頭做了特殊的耐久性設(shè)計(jì)，具有防磕碰、防水、探頭線防折曲等防護(hù)功能。

* 探頭線

由于涂鍍層測(cè)厚儀使用頻率很高，探頭線成為易損件。一般國(guó)產(chǎn)儀器的探頭用不多久就會(huì)出現(xiàn)故障，多數(shù)問題出在探頭線上。

本公司生產(chǎn)的使用的探頭線是在日本定做的。這種導(dǎo)線zui初用于機(jī)器人，規(guī)定可經(jīng)受幾百萬(wàn)次的曲折。實(shí)踐證明，這種探頭線很少有因頻繁曲折而損壞的。

具有如下特點(diǎn)：

    ● 量程寬                      ED400型渦流測(cè)厚儀量程達(dá)到0～500 μm

    ● 精度高                      測(cè)量精度達(dá)到2%
    ● 分辨率高                  分辨率達(dá)到0.1 μm
    ● 校正簡(jiǎn)便                  只校正“0”和“50 μm”兩點(diǎn)，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
    ● 基體導(dǎo)電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí)，測(cè)量誤差不大于1～2 μm
    ● 可靠性提高              采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性提高。
    ● 穩(wěn)定性提高              采用*溫度補(bǔ)償技術(shù)，測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
    ● 探頭芯壽命長(zhǎng)          采用高強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計(jì)，探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。

  技術(shù)參數(shù)：