產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。
其特點(diǎn)為:激光自動(dòng)對焦、全自動(dòng)XYZ樣片臺、簡易自動(dòng)對位、具溫度補(bǔ)償功能、十字線自動(dòng)調(diào)整、可自行設(shè)計(jì)報(bào)告格式、多鍍層及電鍍液分析、具有競爭力的價(jià)格、五個(gè)準(zhǔn)直器(
可測元素范圍:鈦(Ti) – 鈾(U) 原子序 22 – 92
準(zhǔn)直器:固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動(dòng)種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統(tǒng)計(jì)功能
本公司還供應(yīng)上述產(chǎn)品的同類產(chǎn)品:美國膜厚儀,膜厚測量儀,鍍層厚度測量儀