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◆可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
◆可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。
◆薄膜FP法軟件是標準配置，可同時對多層鍍層及合金鍍層厚度和成分進行測量。此外，也適用于無鉛焊錫的應用。
◆備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
韓國進口金屬鍍層測厚儀Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。只需要10-30秒即可獲得測量結果, zui小測量面積為直徑為0.1mm的圓面積; 測量范圍：0-35um;
韓國進口金屬鍍層測厚儀其特點為：激光自動對焦、全自動XYZ樣片臺、簡易自動對位、具溫度補償功能、十字線自動調(diào)整、可自行設計報告格式、多鍍層及電鍍液分析、具有競爭力的價格、五個可選準直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破壞性測厚儀器的*機型。測量精度：誤差控制在±5%.
儀器規(guī)格及參數(shù)
X射線管 | 油冷式超微細對焦點X射線管 靶材：鎢（W）、鋁（AL）、鉬（MO） 管電壓：0~50kv 管電流：0.1mA |
照射方式 | 由上往下垂直照射方式 |
檢測器 | 正比例計數(shù)管（PC） |
儀器校正 | 密度校正，標準樣品校正 |
檢測濾片 | Co片，Ni片可選 |
準直器 | 固定型或自動型 |
固定型：可選0.1，0.2，0.3，0.4，0.05x0.3mm | |
自動型：0.1，0.2，0.3，0.4，0.05x0.3mm | |
輸入電壓 | AC220V |
溫度控制 | 前置放大及主機溫度控制 |
工作溫度 | 室溫（22~25℃） |
真空樣品室 排氣所需時間 | 沒有 |
可測量元素范圍 | 鈦（Ti）—鈾（U） |
可測量厚度范圍 | 原子序：22-25,0.1-0.8um 26-40,0.05-35um 43-52,0.05-100um 72-82,0.05-5um |
測量時間 | 10~30s |
操作接口 | Windows XP |
標準曲線 | ．自動做標準曲線功能 |
．多點標準曲線 | |
．標準曲線的曲線表示 | |
測量功能 | ．常規(guī)測量（自動測量功能） |
．設定輸出方式功能 | |
．確認測量位置功能 | |
．自動測量條件設定（管電流,1次及2次濾波器，ROI，NF濾波器設定） | |
．薄膜FP法軟件 | |
自動測量功能 | ．測量位置的（X、Y、Z） |
．用鼠標在畫面上輸入 | |
．同一式樣的重復測量功能 | |
．確認測量位置功能（圖示） | |
．原點的設定功能（可記憶每個檔案的原點） | |
．保存原點的影像功能 | |
．原點的補正功能（位置滑動角度補正功能） | |
補正功能 | ．底材補正 |
．已知樣品補正 | |
．自已輸入補正（密度補正） | |
定性分析功能 | ．KLM標示 |
．ROI設定數(shù)：50 | |
．能譜表示功能 | |
．能譜比較標示功能（2段標示.重疊對照標示.扣除標示） | |
．坐標尺寸設定功能（強度、能量） | |
．能譜，樣品畫面的保存功能 |