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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
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光纖折射率分布分析儀可測量光纖折射率分布剖面,而不需要在375nm~2um波長處切割,適合任意光纖折射率剖面測量。
多波長設(shè)計(jì)
不需要切割
亞微米空間分辨率
適合任意光纖類型
快速測量
折射率測量精度:+/-0.0001
空間分辨率:~500nm
測量波長:500nm ~1um
適合光纖直徑:40~400um
光纖材質(zhì):硅玻璃,非硅玻璃,塑料
同心度誤差:+/-200nm
纖芯非同心度誤差:+/-0.4%
適合光纖種類:單模光纖,多模光纖,微結(jié)構(gòu)化光纖,PCF光纖,保偏光纖,多芯光纖,稀土光纖,包層泵浦光纖,大模面積光纖,低彎曲損耗光纖,高Δ光纖等。
光纖折射率分布分析儀測量結(jié)果展示
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