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掃描電化學(xué)顯微鏡是電化學(xué)成像研究設(shè)計(jì)的SECM顯微鏡,用于生物傳感器、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)，多孔膜研究、燃料電池催化劑和腐蝕機(jī)制研究。
掃描電化學(xué)顯微鏡SECM集成了一個(gè)定位系統(tǒng)、一個(gè)雙恒電位儀和超微電極探針。定位系統(tǒng)將探針移近樣品表面。這個(gè)雙偏振鏡使樣品和探針都極化并測(cè)量?jī)蓚€(gè)產(chǎn)生的電流。這個(gè)探針是一種具有特定錐形拋光的超微電極,活性半徑小于100微米。定位系統(tǒng)掃描測(cè)量探針并用測(cè)量的電化學(xué)參數(shù)，創(chuàng)建數(shù)據(jù)圖。
接近曲線被用作電化學(xué)手段從而將探針在Z方向上定位為足夠靠近樣本位于局部成像區(qū)。探針處的電流為隨著探針向樣本遞增而繪制圖表。什么時(shí)候探針離樣品足夠近（一段距離
為探針直徑的2-4倍）探針處的電流從整體響應(yīng)轉(zhuǎn)變?yōu)榫植宽憫?yīng)回答在高導(dǎo)電性區(qū)域，Nerstain響應(yīng)提供的本地電流比大電流。然而，相對(duì)于樣品絕緣特性區(qū)域的體積值到探針的大規(guī)模運(yùn)輸受阻。
掃描電化學(xué)顯微鏡（SECM）可實(shí)現(xiàn)的其它測(cè)量技術(shù)
掃描振動(dòng)電極技術(shù)
局部電化學(xué)阻抗
光譜學(xué)（LEIS）
掃描開爾文探針（SKP）
掃描液滴池（SDC）
光學(xué)表面輪廓儀
VS觸控筆-持續(xù)接觸SECM