使用10nm波長間隔測量360nm~740nm全范圍波長。采用雙波束方式、雙通道傳感陣列實(shí)現(xiàn)高精度和高再現(xiàn)性。
通過技術(shù)革新實(shí)現(xiàn)SCI/SCE之間的切換，并將濾光器等部件的移動減至zui小。在設(shè)計(jì)和產(chǎn)品校準(zhǔn)中引入了ISO9001認(rèn)證質(zhì)量管理體系，使產(chǎn)品具有高可靠性和耐用性。
通過特殊的數(shù)字化光澤控制方式同時(shí)測量SCI和SCE，僅需4秒即可連續(xù)測量。與傳統(tǒng)機(jī)型不同的是，無需在SCI和SCE模式之間進(jìn)行頻繁的機(jī)械切換，這樣就提高了工作效率。由于在切換模式時(shí)測量區(qū)域不會變化，因此可提供穩(wěn)定的測量數(shù)據(jù)
包含UV的光源和篩除UV的光源依次發(fā)光，可獲取包含UV的光源下的樣本數(shù)據(jù)和不包含UV的光源下（400nm或420nmUV截止濾光片）的樣本數(shù)據(jù)。
也可輕松獲取任意光源下的數(shù)據(jù)（UV調(diào)整）。任意光源下僅需測量已知分光反射率數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)熒光樣本，即可完成UV校正。UV校正后可獲取相應(yīng)光源下的樣本數(shù)據(jù)。由于無需對UV截止濾光片移動引起的嘗試錯(cuò)誤進(jìn)行UV調(diào)整，大大縮短了測量時(shí)間。
測量口徑為 Φ25.4mm、Φ8mm、Φ4mm