上海棱光技術(shù)有限公司

原上海精科-上海第三分析儀器廠

WYL-4應(yīng)力雙折射儀

市場(chǎng)價(jià)：8000元  

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：楊淋

儀器簡(jiǎn)介：

透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機(jī)械作用等原因，其內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力，引起雙折射，晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。WYL-4應(yīng)力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補(bǔ)償原理，通過(guò)對(duì)樣品的光程差的定量測(cè)定，確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。本儀器能精確測(cè)定光學(xué)波片的光程差、確定光學(xué)玻璃的應(yīng)力級(jí)別，是光學(xué)儀器制造業(yè)*的儀器，也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具，廣泛應(yīng)用在國(guó)防、建材、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學(xué)方面，是各大專(zhuān)院校特別理想的教學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)備。

儀器特點(diǎn):

l直讀納米級(jí)光程差，無(wú)須計(jì)算。

l雙分視場(chǎng)零位檢測(cè)，靈敏度高。

l樣品工作臺(tái)45度自動(dòng)定位。

l體積小巧，結(jié)構(gòu)緊揍。

l操作方便，可靠實(shí)。

技術(shù)指標(biāo)：

l單色光波長(zhǎng)：589.44nm

l光程差測(cè)定范圍：（0～590）nm

l分度盤(pán)分度值：5 nm

l零位誤差：±2nm

l測(cè)量重復(fù)性：1nm

l被測(cè)試樣尺寸：寬度≤440mm，高度≤240 mm，長(zhǎng)度不限