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用于測量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）：? 鋼鐵基體上的非磁性覆層? 有色金屬上的絕緣覆層? 絕緣基體上的有色金屬覆

德國ElektroPhysik （EPK測厚儀）鐵基涂層，0...2000 µm

(統(tǒng)計型,鐵基涂層,0-3000um,含校準箔,防塵套，分辨率1um)

(鐵基涂層,0-3000um,含校準箔,防塵套，分辨率1um)

德國ElektroPhysik （EPK測厚儀）內(nèi)置探頭，兩用型，測量鐵基體上的非磁性涂層，非鐵基體上的非導電涂層

德國ElektroPhysik （EPK測厚儀）內(nèi)置探頭，兩用型，測量鐵基體上的非磁性涂層，非鐵基體上的非導電涂層

(統(tǒng)計型,非鐵基涂層,0-2000um,含校準箔,防塵套，分辨率1um)

(兩用型,0-2000um,含校準箔,防塵套，分辨率1um)

?　所有金屬基材上的非破壞性測量?　多種圖形顯示選項?　菜單控制界面，更強的數(shù)據(jù)和配置管理

(統(tǒng)計,兩用型,0-2000um,含校準箔,防塵套，分辨率1um)

德國ElektroPhysik （EPK測厚儀）鐵基涂層，0...15 mm

德國ElektroPhysik （EPK測厚儀）非鐵基涂層，0...2500 µm

創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術(shù)提升了測量的性 -測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用 -FN探頭自動識別F（鐵磁性）或...

(非鐵基涂層,0-2000um,含校準箔,防塵套，分辨率1um)

德國ElektroPhysik （EPK測厚儀）非鐵基涂層，0...700 µm

用于測量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）：? 鋼鐵基體上的非磁性覆層? 有色金屬上的絕緣覆層? 絕緣基體上的有色金屬覆

德國ElektroPhysik （EPK測厚儀）兩用型，0...1500 µm (F)，0...700 µm (N)

用于測量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）：? 鋼鐵基體上的非磁性覆層? 有色金屬上的絕緣覆層? 絕緣基體上的有色金屬覆

德國ElektroPhysik （EPK測厚儀）鐵基涂層，0...5000 µm

德國ElektroPhysik （EPK測厚儀）兩用型，0...5000 µm (F)，0...2500 µm (N)