Janis Microscopy顯微光學(xué)超導(dǎo)磁體系統(tǒng)被設(shè)計(jì)用于與ST-500型高穩(wěn)定性顯微光學(xué)低溫恒溫器一起使用，實(shí)現(xiàn)在7 T磁場(chǎng)及3.5 K~420 K變溫環(huán)境中的顯微光學(xué)測(cè)量。該系統(tǒng)配備用于樣品掃描和聚焦的X-Y-Z平移臺(tái)，可在低溫強(qiáng)磁場(chǎng)下的進(jìn)行顯微拉曼、熒光、磁光克爾等多種光譜測(cè)試。

主要特征

?  7T垂直孔徑超導(dǎo)磁體

?  室溫孔內(nèi)徑42毫米

?  超低振動(dòng)ST-500顯微鏡低溫恒溫器

?  溫度范圍：3.5~325K（420K可選）

?  高精度XYZ三軸平臺(tái)

?  可測(cè)試直徑為16mm的樣品

?  低溫強(qiáng)磁場(chǎng)顯微拉曼、熒光、MOKE

標(biāo)準(zhǔn)Microscopy主要參數(shù)