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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法： 1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-2005 2、X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005 3、庫(kù)侖法，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005
五金鍍層測(cè)厚儀測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法 2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08 Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
應(yīng)用行業(yè)
1、 電子半導(dǎo)體行業(yè)接插件和觸點(diǎn)的厚度測(cè)量 2、 印刷線路板行業(yè)功能鍍層厚度測(cè)量 3、 貴金屬首飾手表行業(yè)鍍層厚度測(cè)量 4、 五金電鍍行業(yè)各種防腐性、裝飾性及功能鍍層厚度測(cè)量
五金鍍層測(cè)厚儀參數(shù)規(guī)格
1．分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）；
2.同時(shí)檢測(cè)元素：多24個(gè)元素，多達(dá)5層鍍層；
3.分析含量：一般為2ppm到99.9%；
4.鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）；
5.SDD探測(cè)器：分辨率低至135eV；
6.良好的微孔準(zhǔn)直技術(shù)：小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm；
7.樣品觀察：配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭；
8.準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合；
9.儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.樣品臺(tái)尺寸：393（W）x 258 （D）mm；
12.X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度：小于0.1um；
測(cè)試實(shí)例
Thick8000在保證計(jì)數(shù)率的情況下能有效分辨相近元素，大大提高測(cè)試穩(wěn)定性、降低檢測(cè)限。
11次測(cè)量結(jié)果（Au-Cu)的穩(wěn)定性數(shù)據(jù)對(duì)比如下：
| 次數(shù) | Thick8000 | 行業(yè)內(nèi)其他儀器 |
| 1 | 0.042 | 0.0481 |
| 2 | 0.043 | 0.0459 |
| 3 | 0.043 | 0.0461 |
| 4 | 0.0412 | 0.0432 |
| 5 | 0.0429 | 0.0458 |
| 6 | 0.0436 | 0.0458 |
| 7 | 0.0427 | 0.0483 |
| 8 | 0.0425 | 0.045 |
| 9 | 0.0416 | 0.0455 |
| 10 | 0.0432 | 0.0485 |
| 11 | 0.0422 | 0.043 |
| 平均值 | 0.0425 | 0.0459 |
| 標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0.0007 | 0.0019 |
| 相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 1.70% | 4.03% |
| 極差 | 0.0024 | 0.0055 |
測(cè)試結(jié)論：實(shí)驗(yàn)表明，使用Thick8000電鍍膜厚測(cè)試儀對(duì)鍍件膜厚測(cè)試，結(jié)果準(zhǔn)確度高，速度快（幾十秒），其測(cè)試精度優(yōu)于國(guó)外高端儀器。