x射線熒光礦石分析儀技術(shù)參數(shù)

型號(hào)：EDX3600K

X射線源：50KV、1mA

樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm

分析方法：能量色散X熒光分析方法

測量元素范圍：原子序數(shù)為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量

檢測元素：同時(shí)分析元素達(dá)三十多種，可根據(jù)客戶需要增加元素

含量范圍：ppm～99.99%

檢測時(shí)間：10秒以上

檢測對(duì)象：標(biāo)準(zhǔn)粉未壓片及可以放入標(biāo)準(zhǔn)樣品杯的固體、液體及粉末

探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV

激發(fā)源：銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇

攝像頭：高清攝像頭

測井環(huán)境：超真空系統(tǒng)，10秒可抽到10Pa以下，大氣、氦氣均可以

準(zhǔn)直器和濾光片：四組準(zhǔn)直器（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自動(dòng)切換

自旋裝置：可調(diào)速的自旋裝置

檢出限：對(duì)樣品中的大多數(shù)元素來說，檢出限達(dá)5～500ppm

真空系統(tǒng)：超真空系統(tǒng)，10秒可到10Pa

數(shù)據(jù)傳輸：數(shù)字多道技術(shù)，快速分析，高計(jì)數(shù)率

測試臺(tái)：360°電動(dòng)旋轉(zhuǎn)式

保護(hù)系統(tǒng)：樣品腔為電動(dòng)控制，上蓋打開時(shí)測試已完成

樣品放置：*的樣品杯設(shè)計(jì)，自帶壓環(huán)，可防止樣品晃動(dòng)

數(shù)字多道技術(shù)：計(jì)數(shù)率>50kcps，有效計(jì)數(shù)率高至500kcps

外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG

操作環(huán)境濕度：≤90%

操作環(huán)境溫度：15℃～30℃

x射線熒光礦石分析儀應(yīng)用領(lǐng)域

專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款高端設(shè)備，主要應(yīng)用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領(lǐng)域。

同時(shí)在地質(zhì)、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測、有色金屬、食品、農(nóng)業(yè)等科研院所、大專院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應(yīng)用。