目錄:科睿設(shè)備有限公司>>半導(dǎo)體材料表征>> 單點(diǎn)開(kāi)爾文探針-材料表征
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更新時(shí)間：2025-02-27 14:42:35瀏覽次數(shù)：2515評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,電氣,綜合 |
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單點(diǎn)開(kāi)爾文探針-材料表征
單點(diǎn)開(kāi)爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置,用于測(cè)試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開(kāi)爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界最高分辨率的測(cè)試系統(tǒng)。
單點(diǎn)開(kāi)爾文探針-材料表征
主要特點(diǎn)：
● 功函分辨率< 3meV
● 手動(dòng)高度調(diào)節(jié)
應(yīng)用領(lǐng)域：
● 有機(jī)和非有機(jī)半導(dǎo)體
● 金屬
● 薄膜
● 太陽(yáng)能電池和有機(jī)光伏材料
● 腐蝕
升級(jí)附件：
● 大氣光子發(fā)射系統(tǒng)
● 表面光電壓(QTH or LED)
● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
● 金或不銹鋼探針，直徑0.05mm to 20mm
● 相對(duì)濕度控制和氮?dú)猸h(huán)境箱
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