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上海榮計達(dá)儀器科技有限公司
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當(dāng)前位置:上海榮計達(dá)儀器科技有限公司>>高低溫環(huán)境試驗箱>>冷熱沖擊試驗箱>> GDC-4027-1兩箱溫度沖擊試驗箱

兩箱溫度沖擊試驗箱

參   考   價: 65000

訂  貨  量: ≥1 件

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號GDC-4027-1

品       牌榮計達(dá)儀器

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

產(chǎn)品資料下載

所  在  地上海市

更新時間:2024-11-20 11:13:51瀏覽次數(shù):374次

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 5萬-10萬
應(yīng)用領(lǐng)域 建材,電子,汽車,電氣,綜合
兩箱溫度沖擊試驗箱用于測試材料瞬間高溫低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度得以在最短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的物理變化。適用于金屬、塑料、橡膠、電子機(jī)電產(chǎn)品、航空航天、能源材料、醫(yī)療化工等材料行業(yè)模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗



兩箱溫度沖擊試驗箱產(chǎn)品用途:

高低溫沖擊試驗箱用于測試材料瞬間高溫低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度得以在最短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的物理變化。適用于金屬、塑料、橡膠、電子機(jī)電產(chǎn)品、航空航天、能源材料、醫(yī)療化工等材料行業(yè)模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗

兩箱溫度沖擊試驗箱特點:

1、采用氣動控制,提籃在高低溫室內(nèi)切換轉(zhuǎn)移,

2、轉(zhuǎn)換時間短,溫度恢復(fù)時間短,溫變速度快,

3、采用兩箱法,新一代外觀設(shè)計,整體結(jié)構(gòu)緊湊,體積小,提高了工作室的溫度均勻性。

4、既可作冷熱沖擊試驗,也可以做單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。

5、備有高檔萬向滾輪,方便在實驗室內(nèi)移動。

6、真空雙層加熱觀察窗,自帶照明。

7、多數(shù)據(jù)接口,SD卡儲存,USB輸出,電腦APP遠(yuǎn)程操作。

技術(shù)參數(shù)

1、提籃有效容積 27L

2、規(guī)格尺寸外寬深高:750×2100×1900mm,內(nèi)520×600×600mm

3、提籃尺寸:300×300×300mm

4、高溫預(yù)溫度范圍60℃~+180℃

5、低溫預(yù)溫度范圍-10℃~-60℃

6、溫度沖擊范圍-40℃~+120℃

7、提籃轉(zhuǎn)換時間≤10S

8、溫度恢復(fù)時間≤5min

9、溫度波動度≤±0.5℃

10、溫度均勻度≤2℃

11、溫度偏差≤±2℃

12、高溫預(yù)熱時間:20℃~180℃≈30min、

13、低溫預(yù)冷時間:20℃~-60℃≈75min

14、總功率≈12kw

15、運(yùn)行功率≈8KW

16使用電壓AC220   50Hz

 

規(guī)格

提籃尺寸

外形尺寸

27L

300×300×300

750×2100×1900

80L

400×400×500

1200×2500×1800

150L

500×500×600

1500×2600×1850

210L

600×500×700

1700×2650×1900

510L

800×800×800

2500×3200×2100

1000L

1000×1000×1000

3000×3500×2100

溫度參數(shù)

高溫預(yù)溫度范圍

60℃~+200℃

低溫預(yù)溫度范圍

-10℃~-80℃

沖擊范圍

-40、-50、-65℃~120、150℃ 按要求選定

溫度恢復(fù)時間

≤5min

溫度波動度

≤±0.5℃

溫度均勻度

≤2℃

溫度偏差

≤±2℃

提籃運(yùn)行

運(yùn)動方式

氣動

提籃轉(zhuǎn)換時間

≤10S

安全保護(hù)

 

漏電、短路、超溫、電機(jī)過熱、壓縮機(jī)超壓、過載、過電流保護(hù)/控制器停電記憶

 

滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法

GB11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件

GB10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件(溫度交變)

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分:高溫試驗

GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分:低溫試驗

GJB150.5-1986溫度沖擊試驗

 


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