低濕型恒溫恒濕試驗箱用途介紹

溫濕度濕熱試驗箱適用于*、電力電子器件、汽車摩托車配套、化工冶金、電子元氣件、手機(jī)電池、筆記本電腦、液晶顯示器、芯片制備、半導(dǎo)體材料、醫(yī)療器械材料在高溫、低溫、恒溫、溫濕交變循環(huán)等環(huán)境下貯存和使用時的適應(yīng)性測試試驗。是檢測新產(chǎn)品時模擬冷熱循環(huán)線性、高溫高濕線性、高溫中濕線性、高溫低濕線性、低溫中濕線性、低溫低濕線性等氣候環(huán)境的可靠性測試試驗。

低濕型恒溫恒濕試驗箱技術(shù)參數(shù)

1.工作室容積：80L，120L，150L，225L，306L，408L，800L，1000L。（可按要求定制尺寸）

2.溫度范圍：0℃～+150℃；-20℃～+150℃；-40℃～+150℃；-60℃～+150℃；-70℃～+150℃。

3.濕度范圍：5%～98%R.H。（為保證溫濕度測試的真實性可定制：0℃開始線性控溫控濕非標(biāo)機(jī)型，標(biāo)準(zhǔn)的控濕以+5℃～+20℃開始）

4.溫度穩(wěn)定度：±0.3℃。

5.濕度穩(wěn)定度：±1.0%R.H.。

6.溫度均勻度：±1.5℃。

7.濕度均勻度：±3.0%R.H.。

8.偏差值：溫度≦±2.0℃；濕度≦3.0%R.H。

9.控制精度：溫度±0.1℃＋1digit；濕度±1%R.H＋1digit。

10.分辨率：溫度±0.01；濕度±0.01%R.H。

11.升溫時間：-20-->+150℃≤60min ；-40-->+150℃≤70min；-70-->+150℃≤80min。

12.降溫時間：+20-->-20℃≤40min；+20-->-40℃≤60min；+20-->-70℃≤80min。

13.升溫速率：平均3℃～+4℃/分鐘。

14.降溫速率：平均0.7℃～1℃/分鐘。

15.內(nèi)箱材質(zhì)：進(jìn)口SUS304#鏡面不銹鋼。

16.外箱材質(zhì)：進(jìn)口SUS304#不銹鋼或進(jìn)口冷軋鋼板噴塑烤漆。

17.制冷系統(tǒng)：法國*“泰康”或“比澤爾”牌壓縮機(jī)二元復(fù)疊模塊化機(jī)組。

18.加熱系統(tǒng)：進(jìn)口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕、耐熱、耐寒加熱管，加熱空氣式控溫。

19.加濕系統(tǒng)：鈦合金護(hù)套式電加熱加濕器，均勻濕氣發(fā)生裝置。

20.節(jié)能方式：冷端P.I.D調(diào)節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱），比平衡調(diào)溫方式節(jié)能30%。

21.制冷劑：R404a/R23。

22.制冷方式：機(jī)械壓縮單級制冷或二元復(fù)疊制冷（風(fēng)冷或水冷）。

23.保護(hù)裝置：壓縮機(jī)過載、過流、超壓保護(hù)；漏電保護(hù)；內(nèi)箱超溫保護(hù)；加熱管空焚保護(hù)。

24.標(biāo)準(zhǔn)配置：觀測窗一個；LED視窗燈一支；保險管2支；物料架2套。

25.電源：AC220V(三線制）±10% 或 AC380V（五線制）±5%。

26.恒溫恒濕試驗箱型號和規(guī)格選擇如下：

 型 號          內(nèi)箱尺寸（mm）          外箱尺寸（mm）

ZK-80B- TH       W400×H500×D400        W1000×H1330×D850

ZK-120B-TH       W500×H600×D400        W1000×H1530×D850

ZK-150B-TH       W500×H600×D500        W1000×H1850×D950

ZK-225B-TH       W500×H750×D600        W1000×H1680×D1050

ZK-408B-TH       W600×H850×D800        W1100×H1780×D1250

ZK-800B-TH       W800×H1000×D1000       W1100×H2150×D1650

ZK-1000B-TH      W1000×H1000×D1000      W1500×H1930×D1450

根據(jù)客戶需求非標(biāo)定做......

恒溫恒濕試驗箱測試執(zhí)行及滿足標(biāo)準(zhǔn)

1.制造標(biāo)準(zhǔn)：GB/T10586-2006，GB/T10592-1989。

2.檢定標(biāo)準(zhǔn)：GB/T5170.2-1996，GB/T5170.5-1996。

3.試驗標(biāo)準(zhǔn)：

1）GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件。

2）GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件。

3）GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則。

4）GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗。

5）GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗。

6）GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗。

7）GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫。

8）GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫。

9）GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗。

10）GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）。

公司主營產(chǎn)品：冷熱沖擊試驗箱、恒濕恒濕試驗箱、高低溫試驗箱、步入式溫濕交變試驗室、高低溫濕熱交變試驗機(jī)、高溫老化房、溫濕度振動三綜合試驗機(jī)、快速溫變試驗箱、高低溫低氣壓試驗箱、PCT高壓加速老化試驗箱、紫外線耐候老化試驗箱、氙燈耐候老化試驗箱、耐寒折彎試驗箱、砂塵試驗箱、淋雨試驗箱、臭氧老化試驗箱、換氣老化試驗箱、恒溫鼓風(fēng)干燥試驗箱、太陽光伏組件試驗箱、振動試驗機(jī)、跌落試驗機(jī)、拉力試驗機(jī)等可靠性試驗設(shè)備以及定做非標(biāo)機(jī)型。