防爆型高低溫濕熱試驗箱介紹

設(shè)備依據(jù)標準GB8897.4-200（IEC60086-4：2000）《原電池第4部分：鋰電池的安全要求》、GB8897.5-2006（IEC60086-5：2005）《原電池第5部分：水溶液電解質(zhì)電池的安全要求》、IEC 62133：2002《堿性或其它非酸性電解液二次單體電池和電池組便攜式密封二次單體電池和電池組的安全要求》、IEC61951-1：2003《含堿性或其它非酸性電解質(zhì)的便攜式密封可再充電電池和電池組第1部分:鎳鎘電池》、IEC61951-2:2003《含堿性或其它非酸性電解質(zhì)的便攜式密封可再充電電池和電池組第2部分:鎳金屬氫化物》、IEC 61960：2003《堿性或其它非酸性電解液二次單體電池和電池組便攜式二次鋰單體電池和電池組》、UL 1642：2006《鋰蓄電池組》進行熱濫用（*溫）。

防爆型高低溫濕熱試驗箱技術(shù)參數(shù)

1. 溫度范圍: -20℃～＋150℃，-40℃～＋150℃，-70℃～＋150℃。

2. 濕度范圍：20%～98%R.H.（可定制：5%～98%R.H.或10%～98%R.H.）。

3. 內(nèi)箱承受壓力：0.4Mpa（4kg）。

4. 防爆箱泄壓能力：4kg/min。

5. 泄壓口：Φ10cm。

6. 低溫極限: -70℃。

7. 高溫極限: ＋150℃。

8. 溫度均勻度: ±2.0℃。

9. 溫度波動度: ±0.5℃

10.濕度波動度：±1.5%R.H.。

11.濕度均勻度：±2.0%R.H.。

12.溫度升溫速率：1.0℃～3.0℃/min。

13.溫度降溫速率：0.7℃～1.0℃/min。

14.升溫時間：-20 -->+150℃≤60min ；-40 -->+150℃≤70min；-70 -->+150℃≤80min。

15.降溫時間：+20 -->-20℃≤40min；+20 -->-40℃≤60min；+20 -->-70℃≤80min。

16.設(shè)備的型號及規(guī)格選擇如下：

 型 號        內(nèi)箱尺寸（mm）     外箱尺寸（mm）

ZK-GDFB- 80L    W400×H500×D400     W700×H1430×D1150

ZK-GDFB-120L    W500×H600×D400     W800×H1530×D1150

ZK-GDFB-150L    W500×H600×D500     W850×H1680×D1250

ZK-GDFB-225L    W500×H750×D600     W850×H1880×D1350

ZK-GDFB-408L    W600×H850×D800     W900×H1980×D1550

ZK-GDFB-800L    W800×H1000×D1000    W1100×H2150×D1650

ZK-GDFB-1000L   W1000×H1000×D1000   W1300×H2150×D1650

可選非標定制......

設(shè)備試驗滿足標準及條件

1.防爆等級：Exd Ⅱ BT4。

2.GJB150.9-8溫濕試驗。

3.GB/T10586-1989溫濕試驗箱技術(shù)條件。

4.GJBl50.4(MIL-STD-810D) 低溫試驗方法。

5.GJBl50.3(MIL-STD-810D) 高溫試驗方法。

6.GB/T 10592 -2008高低溫試驗箱技術(shù)條件。

7.GJB/150A-2009.實驗室環(huán)境試驗方法第1部分。

8.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序。

9.GB/ T 2421-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則》。

10.B2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合回圈試驗。

11.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則。

12.GB/2423.34-86.MIL-STD883（方法1004.2）高低溫組合循環(huán)試驗。

13.GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗。

14.GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗。

15.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A:低溫。

16.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B:高溫。

17.GB/T2423.1～2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗。A：低溫試驗方法、試驗B：高溫試驗方法》。