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高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱

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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) ZK-TS-150L
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 東莞市
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更新時(shí)間:2021-05-11 09:44:01瀏覽次數(shù):1130

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產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 10萬(wàn)-20萬(wàn)
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,汽車及零部件
高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱是通過高溫儲(chǔ)能槽與低溫儲(chǔ)能槽快速溫度轉(zhuǎn)換(≤5min)來實(shí)現(xiàn)對(duì)半導(dǎo)體、5納米芯片、動(dòng)力電池、電路主板、石墨烯屏幕、華為手機(jī)屏,iPhone觸摸屏、watch在*溫和極低溫的環(huán)境中進(jìn)行冷熱交替膨脹和收縮試驗(yàn),使產(chǎn)品中產(chǎn)生高溫變應(yīng)力和應(yīng)變來發(fā)現(xiàn)潛存于產(chǎn)品中的零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵提前曝露。

詳細(xì)介紹

高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途介紹

設(shè)備是通過高溫儲(chǔ)能槽與低溫儲(chǔ)能槽快速溫度轉(zhuǎn)換來實(shí)現(xiàn)對(duì)半導(dǎo)體、5納米芯片、動(dòng)力電池、電路主板、石墨烯屏幕、華為手機(jī)屏,iPhone觸摸屏、watch在*溫和極低溫的環(huán)境中進(jìn)行冷熱交替膨脹和收縮試驗(yàn),使產(chǎn)品中產(chǎn)生高溫變應(yīng)力和應(yīng)變來發(fā)現(xiàn)潛存于產(chǎn)品中的零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵提前曝露。避免產(chǎn)品在使用過程中受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效,對(duì)于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著效果。

 

設(shè)備編程測(cè)試程序

1.CJ602S3I

(1)高溫暴125℃,低溫暴露-40℃,暴露時(shí)間均30min。

(2)高溫150℃暴露30min,環(huán)境溫度5min,低溫-55℃暴露30min。

2.CJ602SII

(1)高溫暴露125℃,低溫暴露-40℃,暴露時(shí)間均30min。

(2)高溫暴露 150℃,低溫暴露-55℃,暴露時(shí)間均30min。

(3)高溫150℃暴露30min,環(huán)境溫度5 min,低溫-55℃暴露30min。

3.CJ603S3I

(1)高溫暴露125℃,低溫暴露-40℃,暴露時(shí)間均30min。

(2)高溫150℃暴露30min,環(huán)境溫度5 min,低溫-55℃暴露30min。

4.CJ603S3II

(1)高溫暴露125℃,低溫暴露-40℃,暴露時(shí)間均30min。

(2)高溫暴露150℃,低溫暴露-55℃,暴露時(shí)間均30min。

(3)高溫150℃暴露30min,環(huán)境溫度5 min,低溫-55℃暴露30min。

5.CJ605S3I

(1)高溫125℃暴露,低溫-40℃暴露,暴露時(shí)間均30min。

(2)高溫150℃暴露30min,環(huán)境溫度5 min,低溫-55℃暴露30min。

6.CJ605S3II

(1)高溫150℃暴露30min,低溫- 55℃暴露30min。

(2)高溫125℃暴露,低溫-40℃暴露,暴露時(shí)間均30min。

(3)高溫125℃暴露30min,環(huán)境溫度暴露5 min,低溫-55℃暴露30min。

 

高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及條件

1.GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法。

2.QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則。

3.滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化。

4.SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式。

5.SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式。

6.GB/T2423.2-2001;GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N。

7.GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。

8.GJB150.3-86;GJB150.4-86;GJB150.5-86;GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)。

9.EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估。

10.GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;GB/T 2423.22-2002溫度變化。

11.設(shè)備的型號(hào)和規(guī)格選擇如下:

    型 號(hào)                  內(nèi)箱尺寸(mm)                外箱尺寸(mm)

ZK-TS -80L       W500×H600×D500            W850×H1680×D1250

ZK-TS-120L      W500×H750×D600            W850×H1880×D1350

ZK-TS-150L      W500×H600×D500            W850×H1680×D1250

ZK-TS-225L      W500×H750×D600            W850×H1880×D1350

ZK-TS-408L      W600×H850×D800            W900×H1980×D1550

ZK-TS-800L      W800×H1000×D1000         W1100×H2150×D1650

ZK-TS-1000L    W1000×H1000×D1000       W1300×H2150×D1650

可按需求尺寸非標(biāo)定制......

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