高低溫冷熱沖擊試驗箱用途介紹

設(shè)備是通過高溫儲能槽與低溫儲能槽快速溫度轉(zhuǎn)換來實現(xiàn)對半導(dǎo)體、5納米芯片、動力電池、電路主板、石墨烯屏幕、華為手機屏，iPhone觸摸屏、watch在*溫和極低溫的環(huán)境中進行冷熱交替膨脹和收縮試驗，使產(chǎn)品中產(chǎn)生高溫變應(yīng)力和應(yīng)變來發(fā)現(xiàn)潛存于產(chǎn)品中的零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵提前曝露。避免產(chǎn)品在使用過程中受到環(huán)境應(yīng)力的考驗時而導(dǎo)致失效，對于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著效果。

設(shè)備編程測試程序

1.CJ602S3I

(1)高溫暴125℃，低溫暴露-40℃，暴露時間均30min。

(2)高溫150℃暴露30min，環(huán)境溫度5min，低溫-55℃暴露30min。

2.CJ602SII

(1)高溫暴露125℃，低溫暴露-40℃，暴露時間均30min。

(2)高溫暴露 150℃，低溫暴露-55℃，暴露時間均30min。

(3)高溫150℃暴露30min，環(huán)境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min。

3.CJ603S3I

(1)高溫暴露125℃，低溫暴露-40℃，暴露時間均30min。

(2)高溫150℃暴露30min，環(huán)境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min。

4.CJ603S3II

(1)高溫暴露125℃，低溫暴露-40℃，暴露時間均30min。

(2)高溫暴露150℃，低溫暴露-55℃，暴露時間均30min。

(3)高溫150℃暴露30min，環(huán)境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min。

5.CJ605S3I

(1)高溫125℃暴露，低溫-40℃暴露，暴露時間均30min。

(2)高溫150℃暴露30min，環(huán)境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min。

6.CJ605S3II

(1)高溫150℃暴露30min，低溫- 55℃暴露30min。

(2)高溫125℃暴露，低溫-40℃暴露，暴露時間均30min。

(3)高溫125℃暴露30min，環(huán)境溫度暴露5 min，低溫-55℃暴露30min。

高低溫冷熱沖擊試驗箱滿足測試標(biāo)準(zhǔn)及條件

1.GB/T2423.1-2001低溫試驗方法。

2.QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則。

3.滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化。

4.SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式。

5.SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式。

6.GB/T2423.2-2001；GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N。

7.GJB360.7-87溫度沖擊試驗；GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。

8.GJB150.3-86；GJB150.4-86；GJB150.5-86；GJB150.5-86溫度沖擊試驗。

9.EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。

10.GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則；GB/T 2423.22-2002溫度變化。

11.設(shè)備的型號和規(guī)格選擇如下：

    型 號                  內(nèi)箱尺寸（mm）                外箱尺寸（mm）

ZK-TS -80L       W500×H600×D500            W850×H1680×D1250

ZK-TS-120L      W500×H750×D600            W850×H1880×D1350

ZK-TS-150L      W500×H600×D500            W850×H1680×D1250

ZK-TS-225L      W500×H750×D600            W850×H1880×D1350

ZK-TS-408L      W600×H850×D800            W900×H1980×D1550

ZK-TS-800L      W800×H1000×D1000         W1100×H2150×D1650

ZK-TS-1000L    W1000×H1000×D1000       W1300×H2150×D1650

可按需求尺寸非標(biāo)定制......