高加速加壓試驗測試箱HAST Test用途介紹

高加速溫濕度及偏壓測試Highly Accelerated Stress Test具備75%～100%R.H非飽和蒸汽、高溫、高濕、高氣壓等測試功能，一般以?130℃，85%R.H，1.1 VCC，Static bias，2.3 atm，的測試條件對半導體元器件、晶硅太陽能電池、磁性材料、IC芯片、PCB板、EVA、OLED等產(chǎn)品進行100hous以內(nèi)的抵抗?jié)穸饶芰图铀倨涫н^程，是檢驗產(chǎn)品的電離腐蝕與封裝密封性。符合GB/T 2423.40-2013 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx，使其快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，是提高試驗效率與縮短產(chǎn)品試驗周期的可靠性試驗設(shè)備。

高加速加壓試驗測試箱HAST Test控制系統(tǒng)

1.微電腦飽和蒸氣溫度+時間LED顯示器控制器, 壓力+指針式顯示表。

2.本系統(tǒng)符合高壓加速老化之可靠度試驗規(guī)格：CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、 NACE、UL、MIL。

3.控制對象：微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度。

4.控制方式：微電腦控制，可程序及定值設(shè)定，大1000組程序記憶，每組200段次、999循環(huán)次數(shù)。

5.溫度控制精度：±0.5℃。

6.解析精度：±0.01℃/±0.1%R.H。

7.壓力控制精度：±0.15KG。

高加速加壓試驗測試箱技術(shù)指標

1.溫度范圍: ＋105℃～＋135℃。

2.溫度波動度: ±0.5℃。

3.溫度均勻度: ±1.5℃。

4.濕度范圍: 75%～100%R.H。（可范圍內(nèi)調(diào)節(jié)）

5.濕度波動度: ±1.5%R.H。

6.濕度均勻度: ±3.0%R.H。

7.壓力范圍：1.0kg/cm2～3.0kg/cm2。

8.循環(huán)方式: 水蒸氣自然對流循環(huán)。

9.測時間設(shè)置：0～999 Hr。

10.加壓時間：0.00kg/cm2～2.00kg/cm2約30分鐘。

12.升溫時間: 由常溫升至＋132℃約30分鐘非線性空載。

13.溫度變化速率為空氣溫度平均變化速率,而非產(chǎn)品溫度變化速率。

14.在無試驗負荷、無層架情況下穩(wěn)定30分鐘后測定的性能。

15.關(guān)于溫度上升及下降時間是指風冷式在周圍環(huán)境溫度為26℃±5℃,時所測量的性能。

16.溫濕度傳感器設(shè)置于空調(diào)箱出風口處。

17.溫濕度均勻度定義為：實驗室?guī)缀沃行狞c處，溫濕度時的所測之資料。

18.以上數(shù)據(jù)性能，測量，計算方法參照GB5170.2、GB5170.5的方法測定。

19.hast試驗箱型號及規(guī)格選擇如下:

高加速加壓試驗測試箱執(zhí)行與滿足標準

1.MIL-STD810D方法502.2。

2.GJB150.9-8溫濕試驗。

3.LEC60068-2-66試驗。

4.JESD22-A102-B試驗。

5.JESD22-A110

6.GB/T2423.40-1997試驗。

7.GB/T10586-1989濕熱試驗箱技術(shù)條件。

8.GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定濕熱試驗。

9.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗。