特征 & 優(yōu)點

• 高分辨率直流參數(shù)測量 370B（分辨率低至 1 pA 或 2 μV）

• 高電壓和電流 使用 371B 供電（高達 3,000 V 或 400 A）

• 內(nèi)置光標測量 - 點、窗口和功能線

• Kelvin Sense 測量

• 掃 測量模式

• 波形比較和平均

• 可 編程 序

• 1.44 MB 軟盤驅(qū)動器存儲曲線的設置和位圖

• 直接 使用第三方打印機進行硬拷貝

應用

• 參數(shù) 半導體的表征

• 故障分析

• 數(shù)據(jù) 圖紙生成

• 制造測試

• 過程監(jiān)控和 質(zhì)量管理

• 進貨檢驗

• 組件匹配

370B 和 371B 可編程曲線追蹤器

泰克曲線跟蹤器提供動力 以及用于測試半導體器件直流特性的多功能性。這 370B 和 371B 曲線示蹤器結合了簡單易用的前面板數(shù)字采集 以及顯示器和可編程性，以滿足各種應用需求。

在 R&D 實驗室，Tektronix 曲線追蹤器用于表征 新設計、SPICE 參數(shù)提取、故障分析和數(shù)據(jù)表 代。在制造測試中，使用泰克曲線跟蹤器進行驗證 設備質(zhì)量和過程監(jiān)控。它們也用于進料檢驗 要驗證設備性能，請執(zhí)行故障分析并匹配組件。

這 高分辨率曲線追蹤器的世界標準

370B 頁。

這 370B 是高分辨率曲線追蹤器的世界標準，可提供高達 20 A/2,000 V 供電能力，結合 1 pA 和 50 μV 測量 分辨率。370B 可對集成的 電路、晶體管、晶閘管、二極管、SCR、MOSFET、電光元件、 太陽能電池、固態(tài)繼電器和其他半導體器件。它有按鈕 源和測量配置，以便于從一個測試進行更改 到下一個。

高功率曲線跟蹤器

371B 頁。

這 371B 是高功率曲線跟蹤器，可執(zhí)行 DC 參數(shù)化 對包括晶閘管在內(nèi)的各種功率半導體進行表征， SCR、IGBT 和功率 MOSFET。高壓集電極模式允許測試 高達 3,000 伏特的設備的關斷特性。脈沖大電流 集電極模式提供大于 400 A 峰值至 測試 On-Characteristics 并允許進行高達 3,000 瓦的高功率測試。 在掃描測量模式下，371B 會自動構建一個族 的曲線，同時用低占空比脈沖刺激設備。有了這個 功能，可以顯示功率曲線而不會過度加熱 裝置。

交互式可編程控制

交互式控制 的 370B 和 371B 測量都是從功能齊全的正面完成的 面板或 GPIB 上。每個操作參數(shù)都可以使用 GPIB 控制器。這些 驅(qū)動程序具有許多構建塊來創(chuàng)建自定義測量解決方案。

商店 以及 Call Setups 和 Digitized Curves

多達 80 個數(shù)字化特征 曲線可以存儲在軟盤或內(nèi)部非易失性存儲器中，并且 只需按一下按鈕即可召回。然后可以將實時曲線與 先前存儲的曲線，用于評估溫度漂移或其他變化 操作參數(shù)。為了幫助識別數(shù)據(jù)，最多 24 個字符的文本 可用于標記或注釋曲線數(shù)據(jù)。

操作參數(shù) 可以使用多種存儲方法進行調(diào)整、存儲和調(diào)用，包括 370B 和 371B 系統(tǒng)內(nèi)存、內(nèi)置 1.44 MB 軟驅(qū)或發(fā)送 通過 GPIB 控制器從外部傳輸。

自動光標

370B 系列 和 371B 提供三種光標測量模式。點光標提供直接 在任何點顯示電壓、電流、gm 或 DC beta 的屏幕讀數(shù)。窗口 光標可以定位在兩條曲線之間，以測量小信號 beta 或 GM 的 GM 測試，也可用于視覺 go/no-go 測試。函數(shù) line 光標 提供斜率或截距值的屏幕讀數(shù)。

掃描測量 模式

在掃描測量模式下，曲線追蹤器會自動 構造一系列曲線。371B 以低占空比實現(xiàn)了這一點 脈沖。借助此功能，可以顯示功率曲線而不會過多 設備的加熱。

直接硬拷貝打印輸出

曲線輸出 數(shù)據(jù)可以直接從 370B 和 371B 發(fā)送到 Citizen iDP-3240Thermal 打印機。在 370B 和 371B 執(zhí)行下一步任務時，可以繼續(xù)打印。