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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
手持式四探針測試儀，便攜式四探針測試儀（電阻率：0.01～1999.9Ω.cm，方塊電阻：0.1～19999Ω/□，可擴(kuò)
貨號：PN000136
產(chǎn)品資料
手持式四探針測試儀，便攜式四探針測試儀（電阻率：0.01～1999.9Ω.cm，方塊電阻：0.1～19999Ω/□，可擴(kuò)展）
| 該型手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 儀器采用了新電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。如有需要可加配測試臺使用。 本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。 | ||||||||||||||||||||||||||
| 技 術(shù) 指 標(biāo) ： | ||||||||||||||||||||||||||
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