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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
手持式四探針測試儀，便攜式四探針測試儀（電阻率：0.01～1999.9Ω.cm，方塊電阻：0.1～19999Ω/□，可擴
貨號：PN000136
產(chǎn)品資料
手持式四探針測試儀，便攜式四探針測試儀（電阻率：0.01～1999.9Ω.cm，方塊電阻：0.1～19999Ω/□，可擴展）
| 該型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的，于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 儀器采用了新電子技術(shù)進行設(shè)計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點。如有需要可加配測試臺使用。 本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。 | ||||||||||||||||||||||||||
| 技 術(shù) 指 標 ： | ||||||||||||||||||||||||||
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