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磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗磁粉檢測設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場強度和方向、有效檢測區(qū)以及磁化方法是否正確。

型靈敏度試片Z先由日本無損檢測學(xué)會提出，以后為多個國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查...

M1型磁粉檢測試片試片用于連續(xù)法磁粉探傷時，驗證工件表面磁場強度的大小與方向，驗證磁粉探傷的綜合性能。

A型靈敏度試片Z先由日本無損檢測學(xué)會提出，以后為多個國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢...

D型磁粉靈敏度試片系本公司按JB/T4730.4-2005中D型試片的要求制作D型磁粉靈敏度試片用于連續(xù)法磁粉探傷時，驗證工作表面磁場強度的方向與大小，驗證磁粉...

N1型提升力試塊規(guī)格為:45牛頓,約5KgN2型提升力試塊規(guī)格為:118牛頓,約12KgN3型提升力試塊規(guī)格為:177牛頓,約18Kg

N1型提升力試塊規(guī)格為:45牛頓,約5KgN2型提升力試塊規(guī)格為:118牛頓,約12KgN3型提升力試塊規(guī)格為:177牛頓,約18Kg

N1型提升力試塊規(guī)格為:45牛頓,約5KgN2型提升力試塊規(guī)格為:118牛頓,約12KgN3型提升力試塊規(guī)格為:177牛頓,約18Kg

TD型 磁場指示器(亦稱八角試塊)，是用電爐銅焊將八塊低碳鋼與銅片焊在一起構(gòu)成的，有一個非磁性的手柄，用途與標(biāo)準(zhǔn)試片基本相同，但比試片經(jīng)久耐用，操作簡便。

B型 直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊(亦稱12孔試塊)或直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊，直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊在美國稱BETZ環(huán)同效，用AISI01克托斯鉻鎢錳工具鋼制成，洛氏硬度HRC=90～...

E型磁粉探傷試塊(3孔試塊)與日本B型試塊接近。交流環(huán)形試塊的鋼環(huán)用含碳量不大于0.15％的軟鋼制成，鋼環(huán)用膠木做襯墊，套在銅棒上，鋼環(huán)上鉆有直徑1mm的3個孔...

缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場件號：519630 型號：KSC-230件號：521048 型號：KSC-430說明：標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚...

缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場件號：519630 型號：KSC-230件號：521048 型號：KSC-430說明：標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚...

與KSC-230相似，于工件上的小區(qū)域，每片四個圓，可切割開，單獨使用件號：519631型號：KSC-4-230說明：小型I試片，每片試片有4個基圓，缺陷深度為...

不同深度的I試片用于定量要求更高的作業(yè)，缺陷呈三個不同深度的同心圓環(huán)型號：KSCT-234說明：不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%，...

型號：KSC4-234不同深度I試片，缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%試片厚度為0.004英寸

八角試塊檢測鐵金屬的缺陷時，八角試塊有助于確定磁場強度的方向。

磁粉試棒在兩個方向上有粗細(xì)不一的人工表面和次表面缺陷滿足和超過大部分工業(yè)和軍用對于人工試片的標(biāo)準(zhǔn)，包括MIL-STD-271

工具鋼環(huán)型試塊鉆有模擬次表面缺陷的孔，在不同的磁化電流水平下，形成表面顯示，滿足ASTME1444的要求，AS5282認(rèn)證合格。

連續(xù)法試塊在濕法臥式探傷機上，快速、方便的查驗磁化工藝的正確性。如果電流和磁懸液濃度合適，試塊上會顯示裂紋。