AFM配件，原子力探針，AFM探針，原子力探針針尖，顯微鏡探針針尖，原子力針尖，原子力顯微鏡探針針尖，接觸探針，納米壓痕探針，氮化硅探針，硅探針，熱探針，超尖探針，電子探針，顯微鏡針尖，原子力顯微鏡針尖，輕巧模式探針，AFM針尖，接觸式探針，磁性探針，導電探針，顯微鏡探針，探針，布魯克探針，原子力探針，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探針，原子力顯微鏡探針，AFM探針，VEECO探針
作為一家能夠提供AFM/SPM儀器和AFM/SPM探針的企業(yè)，布魯克公司深刻理解每個單獨的組件對于一整套性能AFM系統(tǒng)的價值。布魯克公司以的生產(chǎn)工藝，專業(yè)的AFM領域背景，得天獨厚的生產(chǎn)裝備，賦予探針制造眾多的優(yōu)勢，確保在應用領域中提供完整的AFM解決方案。
布魯克AFM探針制造優(yōu)勢：
*Class100級別的無塵室
*的設計、制造工序及制造工具
*探針設計團隊與AFM設備研發(fā)團隊通力合作，配合緊密
*訓練有素的生產(chǎn)團隊，制造出各種型號的探針
*的質量管理體系，確保探針性能行業(yè)
在實驗中，用戶所得到的數(shù)據(jù)取決于探針的質量及探針的重復性。布魯克的探針具有嚴格的納米加工控制，的質量測試，和AFM領域的專業(yè)背景。所以用戶盡可放心，我們的探針不為您當前的應用提供所需的結果，同時也能為將來的研究提供參考數(shù)據(jù)
Name | Mount | Description | Pack Size | Tip Radius (nm) |
DNP-S | Unmounted | Sharpened, 4 Cantilevers, 0.06-0.58N/m, Au Reflective Coating | 380 | 10 |
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