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詳細(xì)摘要： 定向跌落機(jī)包裝運(yùn)輸?shù)湓囼?yàn)機(jī)本設(shè)備測(cè)試各種產(chǎn)品包裝后受到自由墜落撞擊之損壞程度及評(píng)估電子元器件在搬運(yùn)過(guò)程中遭受落下之耐撞擊強(qiáng)度，以便改良產(chǎn)品結(jié)構(gòu)或包裝之參考。本設(shè)備可針對(duì)產(chǎn)品外包裝棱、角、面進(jìn)行測(cè)試。

詳細(xì)摘要： 手機(jī)小型跌落試驗(yàn)機(jī)玩具包裝產(chǎn)品測(cè)試定向機(jī)本設(shè)備測(cè)試各種產(chǎn)品包裝后受到自由墜落撞擊之損壞程度及評(píng)估電子元器件在搬運(yùn)過(guò)程中遭受落下之耐撞擊強(qiáng)度，以便改良產(chǎn)品結(jié)構(gòu)或包裝之參考。本設(shè)備可針對(duì)產(chǎn)品外包裝棱、角、面進(jìn)行測(cè)試。

詳細(xì)摘要： 單翼跌落試驗(yàn)機(jī) 雙翼產(chǎn)品包裝跌落測(cè)試機(jī)小型專門測(cè)試產(chǎn)品包裝后，受到墜落時(shí)之受損情況，及評(píng)估電子組件在搬運(yùn)時(shí)，遭受落下之耐沖擊強(qiáng)度。本機(jī)可對(duì)包裝件的面、角、棱作自由跌落試驗(yàn)，配備數(shù)顯高度顯示儀及采用譯碼器進(jìn)行高度跟蹤，從而能精確地給出產(chǎn)品跌落高度，與預(yù)設(shè)跌落高度誤差不超過(guò) 2% 或10mm。本機(jī)采用單臂雙柱結(jié)構(gòu)，具有電動(dòng)復(fù)位、電控跌落及電動(dòng)升降裝置，

詳細(xì)摘要： 壽命試驗(yàn)機(jī)按鍵荷重曲線試驗(yàn)按鍵荷重曲線試驗(yàn)機(jī)適用于各種按鍵及開(kāi)關(guān)之（荷重-位移）曲線測(cè)試，利用WINDOWS中文視窗畫(huà)面到設(shè)定，操作簡(jiǎn)單方便，且所有資料皆可儲(chǔ)存（試驗(yàn)條件，位移曲線圖，壽命曲線圖，檢查報(bào)表----等等）可提供高精度之（荷重-位移）測(cè)定,即可得到*準(zhǔn)確之按鍵及開(kāi)關(guān)曲線試驗(yàn).

詳細(xì)摘要： 廠家批量供應(yīng)壽命試驗(yàn)機(jī) 按鍵荷重曲線儀按鍵荷重曲線試驗(yàn)機(jī)適用于各種按鍵及開(kāi)關(guān)之（荷重-位移）曲線測(cè)試，利用WINDOWS中文視窗畫(huà)面到設(shè)定，操作簡(jiǎn)單方便，且所有資料皆可儲(chǔ)存（試驗(yàn)條件，位移曲線圖，壽命曲線圖，檢查報(bào)表----等等）可提供高精度之（荷重-位移）測(cè)定,即可得到*準(zhǔn)確之按鍵及開(kāi)關(guān)曲線試驗(yàn).

詳細(xì)摘要： 單雙跌路機(jī) 小型定向跌落試驗(yàn)機(jī)出廠價(jià)格本設(shè)備測(cè)試各種產(chǎn)品包裝后受到自由墜落撞擊之損壞程度及評(píng)估電子元器件在搬運(yùn)過(guò)程中遭受落下之耐撞擊強(qiáng)度，以便改良產(chǎn)品結(jié)構(gòu)或包裝之參考。本設(shè)備可針對(duì)產(chǎn)品外包裝棱、角、面進(jìn)行測(cè)試。

詳細(xì)摘要： 生產(chǎn)廠家批發(fā)應(yīng)壽命試驗(yàn)機(jī) 按鍵荷重曲線儀按鍵荷重曲線試驗(yàn)機(jī)適用于各種按鍵及開(kāi)關(guān)之（荷重-位移）曲線測(cè)試，利用WINDOWS中文視窗畫(huà)面到設(shè)定，操作簡(jiǎn)單方便，且所有資料皆可儲(chǔ)存（試驗(yàn)條件，位移曲線圖，壽命曲線圖，檢查報(bào)表----等等）可提供高精度之（荷重-位移）測(cè)定,即可得到*準(zhǔn)確之按鍵及開(kāi)關(guān)曲線試驗(yàn).

詳細(xì)摘要： 耐磨擦試驗(yàn)機(jī)塑膠表面劃痕耐磨性能測(cè)試機(jī)適用于印刷品印刷墨層耐磨性、PS版感光層耐磨性及相關(guān)產(chǎn)品表面涂層耐磨性的測(cè)試試驗(yàn)。有效分析印刷品的抗擦性差、墨層脫落、PS版的耐印力低及其它產(chǎn)品的涂層硬度差等問(wèn)題。

詳細(xì)摘要： 模擬手機(jī)跌落試驗(yàn)機(jī) 小物件跌落測(cè)試機(jī)本設(shè)備測(cè)試各種產(chǎn)品包裝后受到自由墜落撞擊之損壞程度及評(píng)估電子元器件在搬運(yùn)過(guò)程中遭受落下之耐撞擊強(qiáng)度，以便改良產(chǎn)品結(jié)構(gòu)或包裝之參考。本設(shè)備可針對(duì)產(chǎn)品外包裝棱、角、面進(jìn)行測(cè)試。

詳細(xì)摘要： 大型包裝跌落測(cè)試試驗(yàn)機(jī)小型單雙翼定向跌落出廠價(jià)格本設(shè)備測(cè)試各種產(chǎn)品包裝后受到自由墜落撞擊之損壞程度及評(píng)估電子元器件在搬運(yùn)過(guò)程中遭受落下之耐撞擊強(qiáng)度，以便改良產(chǎn)品結(jié)構(gòu)或包裝之參考。本設(shè)備可針對(duì)產(chǎn)品外包裝棱、角、面進(jìn)行測(cè)試。

詳細(xì)摘要： 36工位壽命試驗(yàn)機(jī)勤卓?jī)x器研發(fā)生產(chǎn)廠家36工位按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)本機(jī)設(shè)計(jì)采用進(jìn)口氣缸，以一定的速度、行程、負(fù)載的情況下針對(duì)開(kāi)關(guān)進(jìn)行按鍵測(cè)試，來(lái)評(píng)檢產(chǎn)品品質(zhì)情況。

詳細(xì)摘要： 跌落試驗(yàn)機(jī) 大型雙翼方向跌落測(cè)試機(jī)單雙跌落 出廠價(jià)格本設(shè)備測(cè)試各種產(chǎn)品包裝后受到自由墜落撞擊之損壞程度及評(píng)估電子元器件在搬運(yùn)過(guò)程中遭受落下之耐撞擊強(qiáng)度，以便改良產(chǎn)品結(jié)構(gòu)或包裝之參考。本設(shè)備可針對(duì)產(chǎn)品外包裝棱、角、面進(jìn)行測(cè)試。

詳細(xì)摘要： 跌落試驗(yàn)機(jī)手機(jī)小部件電子產(chǎn)品跌落測(cè)試儀測(cè)試各種產(chǎn)品包裝后受到自由墜落撞擊之損壞程度及評(píng)估電子元器件在搬運(yùn)過(guò)程中遭受落下之耐撞擊強(qiáng)度，以便改良產(chǎn)品結(jié)構(gòu)或包裝之參考。本設(shè)備可針對(duì)產(chǎn)品外包裝棱、角、面進(jìn)行測(cè)試。

詳細(xì)摘要： 定向手機(jī)微跌落試驗(yàn)機(jī) 18米測(cè)試跌落機(jī)出廠價(jià)格本設(shè)備測(cè)試各種產(chǎn)品包裝后受到自由墜落撞擊之損壞程度及評(píng)估電子元器件在搬運(yùn)過(guò)程中遭受落下之耐撞擊強(qiáng)度，以便改良產(chǎn)品結(jié)構(gòu)或包裝之參考。本設(shè)備可針對(duì)產(chǎn)品外包裝棱、角、面進(jìn)行測(cè)試。

詳細(xì)摘要： 手機(jī)小型跌落機(jī) 包裝測(cè)試跌落試驗(yàn)機(jī) 自由跌落 出廠價(jià)格本設(shè)備測(cè)試各種產(chǎn)品包裝后受到自由墜落撞擊之損壞程度及評(píng)估電子元器件在搬運(yùn)過(guò)程中遭受落下之耐撞擊強(qiáng)度，以便改良產(chǎn)品結(jié)構(gòu)或包裝之參考。本設(shè)備可針對(duì)產(chǎn)品外包裝棱、角、面進(jìn)行測(cè)試。

詳細(xì)摘要： 跌落試驗(yàn)機(jī)專業(yè)測(cè)試產(chǎn)品包裝墜落受損情況測(cè)試各種產(chǎn)品包裝后受到自由墜落撞擊之損壞程度及評(píng)估電子元器件在搬運(yùn)過(guò)程中遭受落下之耐撞擊強(qiáng)度，以便改良產(chǎn)品結(jié)構(gòu)或包裝之參考。本設(shè)備可針對(duì)產(chǎn)品外包裝棱、角、面進(jìn)行測(cè)試。

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詳細(xì)摘要： 大型跌落試驗(yàn)機(jī) 產(chǎn)品高度跌落測(cè)試設(shè)備適用各種產(chǎn)品包裝后受到自由墜落撞擊之損壞程度及評(píng)估電子元器件在搬運(yùn)過(guò)程中遭受落下之耐撞擊強(qiáng)度，以便改良產(chǎn)品結(jié)構(gòu)或包裝之參考。本設(shè)備可針對(duì)產(chǎn)品外包裝棱、角、面進(jìn)行測(cè)試。

詳細(xì)摘要： 壽命試驗(yàn)機(jī)36工位按鍵試驗(yàn)36工位按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)本機(jī)設(shè)計(jì)采用進(jìn)口氣缸，以一定的速度、行程、負(fù)載的情況下針對(duì)開(kāi)關(guān)進(jìn)行按鍵測(cè)試，來(lái)評(píng)檢產(chǎn)品品質(zhì)情況。