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CX-118A型晶振測試儀

1．概述

CX-118A型晶振測試儀使用微處理器技術(shù)，實現(xiàn)了智能化測量。本系列儀器采用倒數(shù)計數(shù)技術(shù)實現(xiàn)等精度測量。它測量精度，靈敏度，速度快，閘門時間可選；具有頻率測量、周期測量、PPM 測量、分檔測量、上下限測量、累加計數(shù)等功能；中心頻率（標(biāo)稱頻率）F0、分檔值Pr1～Pr8(ppm) 、上限頻率FU、下限頻率FL 可任意設(shè)定并能存儲。該機前置電路有低通濾波器、衰減器等。適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)的生產(chǎn)和科研之用。

2．主要特征

2．1本機采用倒數(shù)計數(shù)技術(shù)，測量精度，測量范圍寬，真正實現(xiàn)等精度測量，測量速度快，靈敏度。

2．2采用單片微機技術(shù)進行周期頻率測量和智能化管理，使得儀器具有很的可靠性和優(yōu)良的性能／價格比。

2．3整機采用大規(guī)模集成電路設(shè)計，CPLD器件的運用，使儀器元器件大為減少，可靠性有了提高，平均工作時間≥10000h。

•   整機外型美觀大方，體積小，重量輕，使用方便。

• 

3．CX-118A型晶振測試儀技術(shù)參數(shù)

3.1 測量范圍

• · 頻率測量：A 通道:1Hz～100MHz；

B 通道:100MHz～1.6GHz(選件)

• · 周期測量：A 通道:10ns～1s

• · PPM測量：-9999～9999ppm

• · 上、下限測量：可根據(jù)用戶所設(shè)定的上限參數(shù)FU、下限參數(shù)FL 來測量被測頻率是否超出上、下限，超限則報警。

• · 分檔測量：根據(jù)用戶所設(shè)定的中心頻率F0 自動進行分檔測量。分檔值：Pr1～Pr8 可在 1～999ppm之間任意設(shè)置

分檔檔數(shù)：以中心頻率F0 為中點左右分成16 檔

•   累加計數(shù)：計數(shù)容量：0～109－1 (選件)

計數(shù)方式：鍵控、門控或外門控可選。

3.2 輸入特性

• · 輸入阻抗：A 通道: 1M"http://40pF B通道: 50"

3.2.2輸入耦合方式：AC 3.2.3波形適應(yīng)性：正弦波、脈沖波

• · 輸入電壓動態(tài)范圍:

A通道：30mVrms～250Vp～p

B通道: 30mVrms～1Vrms

3.2.5 A通道低通濾波器：－3dB帶寬約 100kHz

3.2.6 A通道衰減：×1或×20

3.3測量誤差

3.3.1頻率或周期測量誤差：±時基誤差±觸發(fā)誤差±LSD

100ns

其中：LSD＝─────×被測頻率（或被測周期）

閘門時間

觸發(fā)：當(dāng)被測信號的信噪比為40dB 時，觸發(fā)≤0.3%

•   PPM測量：±時基誤差±觸發(fā)誤差±LSD

其中：LSD＝(100ns/閘門時間)×106ppm

例如：閘門時間=1s 時LSD＝0.1ppm

閘門時間=0.1s 時LSD＝1ppm

3.3.3計數(shù)誤差：±1

3.4閘門時間

固定閘門：10ms、100ms、1s、10s 四檔可選；

可調(diào)閘門：50ms～95ms 分10 檔，每檔間隔5ms。