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上海玖縱精密儀器有限公司
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minitest2100測厚儀 德國EPK（Elektrophysik）公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點(diǎn)：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
minitest2100測厚儀功能
型號 1100 2100 3100 4100 MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量 應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)） 1 1 10 99 每個(gè)應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù)（對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，并可設(shè)寬容度極限值） - 1 10 99 可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識特性的組數(shù) - 1 500 500 數(shù)據(jù)總量 1 10000 10000 10000 MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar - √ √ √ 讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - - √ √ 組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar - - √ √ 組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - - √ √ 存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) - - - √ 分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 - - √ √ 顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間 - √ √ √ 其他功能 透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)（CTC） - √ √ √ 在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) √ √ √ √ 利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn) √ √ √ √ 補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)（Offset） - - √ √ 外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能 - √ √ √ 保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置 √ √ √ √ 更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值 √ √ √ √ 設(shè)置極限值 - - √ √ 公英制轉(zhuǎn)換 √ √ √ √ 連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值 - - √ √ 連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) - - √ √ 浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送 √ √ √ √ 組內(nèi)單值延遲顯示 - √ √ √ 連續(xù)測量模式中顯示zui小值 √ √ √ √
MiniTest可選探頭參數(shù)（探頭圖示）
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
探頭 量程 低端
分辨率 誤差 zui小曲率
半徑（凸/凹） zui小測量
區(qū)域直徑 zui小基
體厚度 探頭尺寸 磁
感
應(yīng)
法 F05 0-500μm 0.1μm ±（1%±0.7μm） 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm F1.6 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170mm F3 0-3000μm 0.2μm ±（1%±1μm） 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm F10 0-10mm 5μm ±（1%±10μm） 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm F20 0-20mm 10μm ±（1%±10μm） 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm F50 0-50mm 10μm ±（3%±50μm） 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm 兩
用
FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 1.5/10mm 5mm F0.5mm
N50μm φ15x62mm FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 平面 30mm F0.5mm
N50μm φ21x89mm FN2 0-2000μm 0.2μm ±（1%±1μm） 1.5/10mm 5mm F0.5mm
N50μm φ15x62mm 電
渦
流
法 N02 0-200μm 0.1μm ±（1%±0.5μm） 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±（1%±1μm） 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm N1.6 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±（1%±1μm） 平面/10mm 5mm 50μm φ13x13x170mm N10 0-10mm 10μm ±（1%±25μm） 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm N20 0-20mm 10μm ±（1%±50μm） 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm N100 0-100mm 100μm ±（1%±0.3mm） 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm CN02 10-200μm 0.2μm ±（1%±1μm） 平面 7mm 無限制 φ17x80mm
注： F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
MiniTest探頭圖示
FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（0.1μm）
FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度
F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高（0.1μm）
F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高（0.1μm）
F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高（0.1μm）
F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層的隔音覆層
N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（0.1μm）
N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（0.1μm）
N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高（0.1μm）
N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N100
0～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
CN02
10～200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板