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     JSM-IT510 新增的“簡單 SEM"功能，用戶可將 SEM 觀察所需的“手動(dòng)重復(fù)操作交給它"，從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。

JSM-IT510 新增 “ 簡單 SEM "功能，用戶可將 SEM 觀察所需的“手動(dòng)重復(fù)操作交給它"，從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。

JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡

主要特點(diǎn)                                                                                                                                      

1.   簡單 SEM

只需選擇目標(biāo)視野

“簡單 SEM"支持日常工作

樣品：電子元件    加速電壓：15 kV，放大倍數(shù)：×50（上部） ×1,000（下部），信號： BE

2.   樣品交換導(dǎo)航

從樣品交換引導(dǎo)至自動(dòng)觀察   安全簡單！

第一步：按照導(dǎo)航指南設(shè)置樣品

                                                            測量樣品高度

第二步：準(zhǔn)備抽真空觀察

*1  樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)（SNS）是選配件

*2  大區(qū)域樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)（SNSLS）是選配件

*3  樣品室相機(jī)（CS）是選配件

第三步：自動(dòng)開始觀察

真空完成后自動(dòng)成像

3.   Zeromag

輕松實(shí)現(xiàn)光學(xué)圖像與SEM圖像之間的無縫轉(zhuǎn)換

Zeromag 功能簡化了導(dǎo)航，提供從光學(xué)圖像到 SEM 圖像的無縫過渡。 SEM、光學(xué)圖像和樣品臺示意圖全部鏈接在一起，以獲得分析位置的全局視圖。

樣品：菊石化石    加速電壓：7kV   信號：BE

4.   實(shí)時(shí)分析 / 實(shí)時(shí)引導(dǎo)圖 *2

SEM觀察的同時(shí)掌握該區(qū)域的元素組成

實(shí)時(shí)分析是一項(xiàng)在圖像觀察期間實(shí)時(shí)顯示 EDS 光譜或元素圖的功能。此功能支持搜索目標(biāo)元素并提供警示。  

簡單分析

最多點(diǎn)擊3次即可開始EDS分析

5.   多種高級選項(xiàng)

1.  NEW 低真空混合二次電子探測器（LHSED）*

該新型探測器可以收集電子和光子信號，并提供具有高信噪比和增強(qiáng)形貌信息的圖像

2. NEW   實(shí)時(shí)3D*

新多向分割BE探測器*，  獲得的圖像可以顯示為實(shí)時(shí)3D圖像。 即使樣品具有細(xì)微的表面起伏，實(shí)時(shí)3D也可以直觀的將其清晰的表現(xiàn)出來，并獲取其深度信息。

樣品：螺釘     加速電壓：15kV   放大倍數(shù)：x100  信號：BE

3.  蒙太奇

蒙太奇功能可以自動(dòng)獲取多個(gè)小視野的圖像并將這些圖像拼接成一張更大視野的圖像。

樣品：菊石化石    加速電壓：15kV    放大倍數(shù)：x150   信號：BE   視野數(shù)：13 x 13

4.  顯示信號深度

此功能實(shí)時(shí)顯示被測樣品的分析深度（近似數(shù)值），對元素分析非常有用。