產(chǎn)品描述
儀器簡(jiǎn)介：

理學(xué)快速X射線應(yīng)力分析儀PSPC-MSF3M，可以高速方便測(cè)量材料中的殘留應(yīng)力，并且可以測(cè)量微區(qū)應(yīng)力，是材料評(píng)價(jià)的好幫手。


主要特點(diǎn)：
1. 使用位敏探測(cè)器，大大提高測(cè)量速度。
2. 通過(guò)準(zhǔn)直器，可以測(cè)量微區(qū)應(yīng)力。
3. 非破壞性檢測(cè)，該系統(tǒng)應(yīng)用X光的衍射方法，可以實(shí)現(xiàn)非破壞性的檢測(cè)金屬內(nèi)部的殘余應(yīng)力。
4. 測(cè)量殘余應(yīng)力值方便，使用Windows軟

產(chǎn)品描述

儀器簡(jiǎn)介： 

    理學(xué)快速X射線應(yīng)力分析儀PSPC-MSF3M，可以高速方便測(cè)量材料中的殘留應(yīng)力，并且可以測(cè)量微區(qū)應(yīng)力，是材料評(píng)價(jià)的好幫手。 

主要特點(diǎn)： 
1. 使用位敏探測(cè)器，大大提高測(cè)量速度。 
2. 通過(guò)準(zhǔn)直器，可以測(cè)量微區(qū)應(yīng)力。 
3. 非破壞性檢測(cè)，該系統(tǒng)應(yīng)用X光的衍射方法，可以實(shí)現(xiàn)非破壞性的檢測(cè)金屬內(nèi)部的殘余應(yīng)力。 
4. 測(cè)量殘余應(yīng)力值方便，使用Windows軟件控制探測(cè)頭，并且收集X射線衍射的強(qiáng)度數(shù)據(jù)。通過(guò)對(duì)數(shù)據(jù)的處    理，輕松取得金屬殘余應(yīng)力值。 
5. 利用Ψo角度修正方式和Ψ角度修正方式，即使晶體表面存在各相異性，通過(guò)Ψo角度修正方式    和Ψ角度修正方式可以獲得更精確的測(cè)量值。這種方法是必要的、特別的，即使對(duì)于塑料制品、鑄      件、焊接部分可以獲得粗糙的紋理。 
6. MSF應(yīng)力測(cè)試裝置有許多調(diào)整功能，在應(yīng)力分布測(cè)量時(shí)，所有的方向（水平方向）可以被測(cè)量到?？梢园?   照預(yù)先設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)傾斜角方法和兩側(cè)傾斜角方法測(cè)量。 
7. 對(duì)被測(cè)物體的外形沒(méi)有很多限制，壓縮X光管擴(kuò)展了測(cè)量的范圍，靈活適用于各種形狀的樣品。 
8. 安全，具有多重保護(hù)功能，能在樣品安裝時(shí)防止X光產(chǎn)生。