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美國(guó)國(guó)家航空和宇宙航行局（NASA）采用產(chǎn)品

IEC61340-2-1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的模板設(shè)備

可以測(cè)試固體，粉體，液體材料的靜電衰減時(shí)間

同時(shí)測(cè)試靜電衰減時(shí)間和電容負(fù)載

可直接放置在成型材料上測(cè)試

量程：10毫秒-99小時(shí)

分辨率：10毫秒

電暈放電電壓：0-9.9KV（可以選擇正負(fù)極性）

衰減比例：可設(shè)置1%-99%

同時(shí)測(cè)量環(huán)境溫濕度

特別設(shè)計(jì)氣閘效應(yīng)，消除殘留空氣離子干擾

高精度靜電壓測(cè)試探頭

配套JCI176樣品臺(tái)可測(cè)量轉(zhuǎn)移到測(cè)試料樣上的電量，并計(jì)算出電容負(fù)載

配套JCI173樣品杯可以測(cè)量粉體和液體的靜電衰減期

配套JCI-Graph軟件遠(yuǎn)端控制儀器，顯示數(shù)據(jù)和衰減曲線，形成報(bào)告，分析/打印/儲(chǔ)存數(shù)據(jù)。