韓國先鋒X光測(cè)厚儀
韓國Micropioneer XRF-2000測(cè)厚儀
1、測(cè)量電鍍層厚度范圍為0.03微米~35微米。
2、可測(cè)量鍍種為:鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳及鋅鎳合金等。
3、可滿足單鍍層、雙鍍層、多鍍層、合金鍍層測(cè)量,不限底村。
韓國Micro Pioneer XRF2020鍍層測(cè)厚儀測(cè)試范圍
鍍金:0.03-6um
鍍鈀:0.03-6um
鍍鎳:0.5-30um
鍍錫:0.3-50um
鍍銀:0.1-50um
鍍鉻:0.5-30um
鍍鋅:0.5-30um
鍍鋅鎳合金:0.5-30um
韓國先鋒X光測(cè)厚儀應(yīng)用:
檢測(cè)電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導(dǎo)體等電鍍層厚度
可測(cè)試單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層厚度