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當前位置：上海精誠興儀器儀表有限公司>>X光鍍層測厚儀>> 韓國先鋒X光測厚儀
| 參 考 價: | 面議 |
產(chǎn)品型號
品牌其他品牌
廠商性質經(jīng)銷商
所在地上海市
更新時間：2023-09-16 13:11:31瀏覽次數(shù)：1190次
聯(lián)系我時，請告知來自 化工儀器網(wǎng)| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子 |
韓國先鋒X光測厚儀
韓國Micropioneer XRF-2000測厚儀
1、測量電鍍層厚度范圍為0.03微米～35微米。
2、可測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳及鋅鎳合金等。
3、可滿足單鍍層、雙鍍層、多鍍層、合金鍍層測量，不限底村。
韓國Micro Pioneer XRF2020鍍層測厚儀測試范圍
鍍金：0.03-6um
鍍鈀：0.03-6um
鍍鎳：0.5-30um
鍍錫：0.3-50um
鍍銀：0.1-50um
鍍鉻：0.5-30um
鍍鋅：0.5-30um
鍍鋅鎳合金：0.5-30um
韓國先鋒X光測厚儀應用：
檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度
可測試單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層厚度
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