天瑞儀器生產(chǎn)的電鍍化學鎳的厚度檢測（關(guān)鍵部件元是進口的）已通過了江蘇省科技廳的驗收，目前已累計銷售貳萬多臺。華為，三星，海爾，美菱等企業(yè)先后組織人員到我司考察后，選擇了我司儀器。主要原因是在滿足客戶檢測需求的情況下，價格更優(yōu)惠，售后服務成本更低廉。

電鍍化學鎳的厚度檢測鍍層厚度測試方法般有以下幾種方法：

1.光學顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-2005

2.X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-2005

3.庫侖法，此法般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005

測量標準

1.標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

2.美標準A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

儀器配置                                            

1    硬件：主機壹臺，含下列主要部件： 

①X光管                    

②半導體探測器

③放大電路                  

④高精度樣品移動平臺

⑤高清晰攝像頭              

⑥高壓系統(tǒng)

⑦上照、開放式樣品腔        

⑧雙激光定位

⑨玻璃屏蔽罩

2   軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0

3   計算機、打印機各臺

計算機（品牌，P4，液晶顯示屏）、打印機（佳能，彩色噴墨打印機）

4   資料：使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各份。

5   標準附件

準直孔：0.1X1.0mm（已內(nèi)置于儀器中）

儀器技術(shù)參數(shù)

1.x射線電鍍層測厚儀針對不規(guī)則樣品進行高度激光定位測試點分析；

2.軟件可分析高5層25種元素鍍層；

3.通過軟件操作樣品移動平臺，實現(xiàn)不同測試點的測試需求；

4.配置高分辨率Si-PIN半導體探測器，實現(xiàn)對多鍍層樣品的分析；

5.內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶觀測樣品狀態(tài)；

6.高度激光敏感性傳感器保護測試窗口不被樣品撞擊。

7.外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

8.樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

9.樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm

10.移動范圍：50(X)mm， 50(Y)mm

11.Z軸升降平臺升降范圍：0-140mm

儀器性能特點及優(yōu)勢

1.高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

2.采用高度定位激光，可自動定位測試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

3.φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

4.定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

5.鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

6.高分辨率探頭使分析結(jié)果更加，微小測試點更。

7.X射線鍍層測厚儀廠家優(yōu)勢在于滿足客戶要求的情況下，價格更優(yōu)惠、售后服務更方便，維護成本更低。

安裝要求

1   環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

2   環(huán)境相對濕度：<70%

3   工作電源：交流220±5V

4   周圍不能有強電磁干擾。