X熒光光譜儀EDX1800B是種波長較短的電磁輻射，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。X射線光譜儀與物質(zhì)的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光光譜儀是由物質(zhì)中的組成元素產(chǎn)生的特征輻射，通過側(cè)里和分析樣品產(chǎn)生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家組成，得到物質(zhì)成分的定性和定量信息。

X熒光光譜儀EDX1800B優(yōu)點

a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān)，但般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的部待測元素。

b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定 。

c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

d) X射線熒光分析是種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同族的元素也能進(jìn)行分析。

e) 分析精密度高。

f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通?？煞譃閮纱箢?，波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關(guān)電子與控制部件，相對簡單。

性能特點

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求

準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應(yīng)用

移動平臺：精細(xì)的手動移動平臺，方便定位測試點

高分辨率探測器：提高分析的性

新代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定，高達(dá)50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率

技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）

分析檢出限可達(dá)1ppm

分析含量般為1ppm到99.99％

任意多個可選擇的分析和識別模型

相互獨立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回歸程序

溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃

電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

能量分辨率：160±5eV

外觀尺寸： 550×416×333mm

樣品腔尺寸：460×298×98mm

重量：45Kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

移動樣品平臺

電制冷Si-PIN探測器

信號檢測電子電路

高低壓電源

大功率X光管

計算機及噴墨打印機

應(yīng)用領(lǐng)域

RoHS檢測分析

地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析

金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測