精密LCR數(shù)字電橋性能特點：
■ 阻抗測量范圍Z寬的自動平衡電橋技術(shù)
■ 四端對端口配置有效消除測試線電磁耦合
■ 基本準確度0.05%
■ Z高達1MHz的測量頻率范圍
■ 交流測試信號可編程至20V（選件）
■ Z高達30次/秒的測量速度
■ 六位讀數(shù)分辨率
■ 可測量22種阻抗參數(shù)組合
■ 30 Ω, 100 Ω可選信號源輸出阻抗
■ 10點列表掃描測試功能

■ TH2828精密LCR數(shù)字電橋是采用當(dāng)前的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%的基本精度、20Hz—1MHz的頻率范圍及高達100MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的一切測量要求，特別有利于測量低D電容器和高Q電感器的測量。其支持20V交流測試信號和40V直流偏置的高功率測試條件及列表掃描能力將有利于用戶擴展元件評價的能力。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。

 

■ TH2828 1MHz同惠精密LCR數(shù)字電橋：廣泛的測量對象:

無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。半導(dǎo)體元件：變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

 

■ TH2828是采用當(dāng)前自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%的基本精度、20Hz—1MHz的頻率范圍及高達100MΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的一切測量要求，特別有利于測量低D電容器和高Q電感器的測量。其支持20V交流測試信號和40V直流偏置的高功率測試條件及列表掃描能力將有利于用戶擴展元件評價的能力。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。TH2828是電子元器件設(shè)計、檢驗、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強有力工具。它的優(yōu)良性能和功能為電路的設(shè)計和開發(fā)以及材料（電子材料和非電子材料）的研究和開發(fā)提供了強有力的工具。TH2828以其的性能可以實現(xiàn)商業(yè)標準和軍用標準如IEC和MIL標準的各種測試。