目錄:上海爾迪儀器科技有限公司>>bruker>>x射線衍射儀>> Bruker D8 ADVANCE x射線衍射儀
| 價格區(qū)間 | 150萬-200萬 | 儀器種類 | 單晶衍射儀 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
Bruker D8 ADVANCE x射線衍射儀
D8 ADVANCE 規(guī)格：
功能 | 規(guī)格 | 優(yōu)勢 |
TRIO 光路和TWIN光路 | 軟件按鈕切換： 馬達驅(qū)動發(fā)散狹縫（BB幾何） 高強度Ka1,2平行光束 高分辨率Ka1平行光束 | 可在多達6種不同的光束幾何之間進行全自動化電動切換，無需人工干預(yù) 是所有類型的樣品分析的理想之選，包括粉末、塊狀材料、纖維、片材和薄膜（非晶、多晶和外延） |
動態(tài)光束優(yōu)化 | 動態(tài)同步： 馬達驅(qū)動發(fā)散狹縫 馬達驅(qū)動防散射屏 可變探測器窗口 2?角度范圍：小于1度至>大于150度 | 數(shù)據(jù)幾乎不受空氣、儀器和樣品架散射的影響 大大提高了檢測下限，可定量分析少量晶相和非晶相 在較小的2θ角度，可對粘土、藥物、沸石、多孔材料及其他材料進行精確研究 |
LYNXEYE XE-T | 能量分辨率：<380 eV @ 8 KeV 檢測模式：0D、1D、2D 波長：Cr、Co、Cu、Mo和Ag
| 無需K?濾波片和二級單色器 銅輻射即可100％過濾鐵熒光 速度比傳統(tǒng)探測器系統(tǒng)快450倍 BRAGG 2D模式：使用發(fā)散的初級線束收集2D數(shù)據(jù) 探測器保證：交貨時無壞道 |
EIGER2 R | Dectris 公司開發(fā)的基于混合光子計數(shù)技術(shù)的新一代探測器，支持多種模式（0D / 1D / 2D） | 在步進掃描、連續(xù)掃描和高級掃描模式中無縫集成0D、1D和2D檢測 符合人體工程學(xué)的免對準探測器旋轉(zhuǎn)功能，可優(yōu)化γ或2?角度范圍 使用完整的探測器視野、免工具全景衍射光束光學(xué)系統(tǒng) 連續(xù)可變的探測器位置，以平衡角度范圍和分辨率 |
旋轉(zhuǎn)光管 | 在線焦斑和點焦斑應(yīng)用之間輕松快捷地進行免對準切換 | 無需斷開電纜或水管，無需拆卸管道 DAVINCI設(shè)計：全自動檢測和配置聚焦方向 |
自動進樣器 | FLIPSTICK：9個樣品 AUTOCHANGER：90個樣品 | 在反射和透射幾何中運行 |
D8 測角儀 | 帶獨立步進電機和光學(xué)編碼器的雙圓測角儀 | 布魯克準直保證，確保了準確性和精確度 免維護的驅(qū)動機構(gòu)/齒輪裝置，終身潤滑 |
非環(huán)境條件 | 溫度：從~85K到~2500K 壓力：10-?mbar至100 bar 濕度：5％至95％ | 在環(huán)境和非環(huán)境條件下進行研究 DIFFRAC設(shè)計助您輕松更換樣品臺 |
基于D8衍射儀系列平臺的D8 ADVANCE，是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選，如：
典型的X射線粉末衍射（XRD）
對分布函數(shù)（PDF）分析
小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）
由于具有出色的適應(yīng)能力，僅使用D8 ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。
無論是新手用戶還是專家用戶，都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。
應(yīng)用范圍：
相鑒定：材料可靠性鑒別(PMI)最為常見，這是因為其對原子結(jié)構(gòu)十分靈敏，而這無法通過元素分析技術(shù)實現(xiàn)。
定量相分析：方法包括EVA軟件半定量分析、DQUANT軟件面積法分析和DIFFRACTOPAS軟件全譜擬合分析法
非環(huán)境 XRD：可以在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步，然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果
織構(gòu)分析：在DIFFRAC.TEXTURE軟件中，使用球諧函數(shù)和組分分析方法，生成極圖、取向分布函數(shù)(0DF)和體積定量分析。
殘余應(yīng)力分析：在DIFFRAC.LEPTOS中分析鋼部件的殘余應(yīng)力:通過sin2psi方法，使用Cr輻射測量得到。
X射線反射法(XRR)：在DIFFRAC.LEPTOS中，對多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進行XRR分析。
小角X射線散射(SAXS):在DIFFRAC.SAXS中，對EIGER2R500K通過2D模式收集的NIST標樣SRM 80119nm金納米顆粒進行粒度分析。
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